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粮食作物提供的植物蛋白是人体所需要的蛋白质中最基本、最重要的来源 ,提高粮食作物中的蛋白质含量 ,对改善食品质量、提高营养水平有着重要意义 ,国际上一直把改善谷物蛋白质含量作为重要研究课题 .测定植物样品中蛋白质含量的传统方法是K氏 (Kjeldahl)化学分析法 ,但K氏法是破坏性的 ,同时又很费时 ,难以满足在选种培育计划中对大批量样品进行快速分析的需要 .因此由基于对氮元素成分的分析出发 ,从而促进了确定蛋白质含量的核技术在这一需求下得到迅速的发展[1] ,如快中子活化法、热中子活化法、光子活化分析法和由质子、α粒… 相似文献
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本工作测量了元素Hf和W的L -X射线产生截面比Lβ/Lα 在从阈能到 3 2keV能区内同能量的函数关系 .实验结果表明 ,比值 Lβ/Lα 在阈能附近和入射能量有关 ,该特性完全不同于在较高能量处现有的 L 壳层数据及所有的 K 壳层数据 ,与他人发表的结果和两种理论预言也作了比较 相似文献
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我们从1984年开始筹建、研制组装,到1999年建成了一个成本低廉实用的基於紫金Ⅱ微机的低本底高分辨γ能谱获取与分析系统,研制工作包括屏蔽效果良好的铅屏蔽室、基于紫金Ⅱ的微机多道系统及其软件、定时器和死时间的数字测量等部份。利用该系统,完成了带电粒子活化反应截面和中子俘获截面的γ能谱测量工作,也满足了本所回旋加速器生产的多种同位素进行质量监控的要求。同时还用薄层活化法对航空轴承的磨损量进行了测量。全部工作均取得较好结果。 相似文献
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无论在基础研究方面, 还是在高技术应用方面, 电子轰击原子的内壳电离截面都具有重要意义. 目前电子轰击元素K和L壳层电离截面的测量多采用薄靶或气体靶, 气体靶仅限于少数气体元素, 而薄靶又因制靶的困难使测量工作难于开展. 为了解决这些难题, 提出在厚衬底上镀薄膜的新方法来测量元素内壳电离截面. 用薄靶厚衬底技术测量了电子碰撞引起的元素钬和锇 L 壳分产生截面、总产生截面和平均电离截面, 电子能量从阈能附近到36 keV. 同时, 采用电子输运双群模型对衬底反射电子的影响作修正, 并把实验结果与Gryzinski和McGuire的两个理论计算结果进行比较. 相似文献
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描述了两种性价比高的核能谱放大器,测试了它们的主要性能并与相似用途的法国放大器的测试结果进行了比较 表明它们是两种经济实用型放大器 相似文献
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用活化法和叠靶降能技术,测量了从阈能到26.4MeV能区181Ta(α,n)184Re和181Ta(α,2n)183Re的激发函数,实验结果同其他作者的结果作了比较,并且采用考虑了平衡前发射的统计模型进行了理论计算,计算结果同实验值作了比较. 相似文献