a-Si:H的光电导衰退与微结构的关系

目前,主要流行的两类微观机制模型——“负有效相关能模型”和“断键模型”——都表明a-Si:H的光诱导变化与其微观结构有关.本文研究了不同制备工艺条件对a-Si:H微结构的影响,和样品的光电导衰退依赖于微结构的关系.最后,从S—W效应的微观机制作了简短讨论.     

a—Si:H太阳电池的RBS技术分析

用背散射技术分析了辉光放电法制备的非晶硅太阳电池。测出了a—Si:H、Al、ITO各层膜的厚度,H和C在非晶硅氢合金中的浓度。分析出了a—Si:H表面含有的某些金属杂质的浓度。消除这些杂质后,a—Si:H大阳电池的性能和稳定性得到改善。     

高压绝缘α—Al2O3涂层的XPS和EELS表面分析

用不同配方的Mn,Cr,Ti混合物涂复α-Al2O3绝缘瓷表面，在适当的条件下热处理，利用XPS和EELS测试分析了表面层的电子能态，发现在退火后各涂层成分的含量变化明显，由于配方元素不同程度地扩散、渗透进95Al2O3陶瓷基底内，通过反应生成了新相；根据价带谱和EELS分析，其表面层的价带项移向真空能级，使能隙减小；能隙中的缺陷态、杂质态及表面态增加，有利于内次级电子的非弹性跃迁和二次电子发射系数的减小。     

不同套袋方式对石榴果实品质及安全性的影响

以陕西临潼石榴为研究对象,研究套袋方式(纸袋、膜袋)对石榴生长规律、石榴品质及安全性的影响.结果表明,套袋栽培技术能明显改善石榴果实的色泽及光滑度,减少裂果率,增加单果重量;套袋石榴果实中还原糖含量明显低于对照组(未套袋)石榴果实,而可滴定酸含量略高于对照组果实;套袋石榴果实中重金属(Pb、As、Hg)含量、农药残留量(氯氰聚酯)明显低于对照组(未套袋)石榴果实.石榴套袋栽培技术是生产优质石榴,提高石榴生产效益的重要措施.     

非晶硅a-Si:H膜中氢含量的深度分布研究

用弹性反冲法对氢化非晶硅(a-Si:H)作了氢剖析.测量了(本征)I-a-Si:H单层膜及PIN-a-Si:H多层膜.结果表明,在～1000A—～1500(?)表面层中,氢含量从外到内急剧下降,而在内部维持一稳定值,并且随着衬底温度增加,膜中氢含量线性减少.氢含量的总误差小于10％,探测深度为～5000.     

高压绝缘α-Al2O3涂层的XPS和EELS表面分析

用不同配方的Mn，Cr，Ti混合物涂复α-Al