太阳耀斑中单能X射线源发射(II)

本文用大量观测数据在［１］的基础上证明：太阳耀斑中不但存在来自ｐｅｐ过程的单能（～１２．５ｋｅＶ）的Ｘ射线源发射，而且存在来自ｄ＋ｅｄ＋过程的单能（～２５ｋｅＶ）的Ｘ射线源发射。并根据理论模型提出关于耀斑Ｘ射线谱测量的建议。     

一种新型的X射线影像存储和读出屏

采用两次烧结的新方法，制备了系列Ｘ射线影像存储材料ＢａＦｘＣｌ（２－ｘ）：Ｅｕ（２＋）（ｘ＝０．９０，０．９５，１．００，１．０５，１．１０，１．１５）．利用这种材料我们制备了新型Ｘ射线影像存储和读出屏，分析了影像存储和读出机制。最后我们测量了存储屏的各种性能参数     

便携式Si（Li）X射线探测器的研制

报道了所研制的便携式Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线探测器，其能量分辩为１５３ｅＶ，液氮保持时间为４０ｈ，充满液氮后的重量为８．２ｋｆ，已用于携带式同位素激发Ｘ射线荧光分析仪中。     

有关金属表层X射线应力分析的讨论

本提出金属表面附近层区的三维应力的新的测试方法，对于存在应力梯度的金属表面层研究有着特殊的意义。本在Ｘ射线宏观应力测试中采用非线性回归方法，较之常规应力测试的线性回归方法，可以得到更具合理性的应力参数，这些应力参数所表示的是金属表面厚度约（１．１～１．２）Ⅱｏ范围内的平均值。这里，Ⅱｏ＝ｓｉｎθψ·０／μ定义为能够产生Ｘ射线衍射的表面层的有效厚度，μ是Ｘ射线的线衰减系数。分析表明，自由表面附…     

新疆北山地区金矿的 X 射线荧光找矿标志

文章探讨了在新疆北山地区特殊地质环境下，采用现场Ｘ射线荧光测量找金的方法技术问题。提出适合于该区快速找金的Ｘ射线荧光找矿最佳指示元素为铁、铜、砷，铁和铜的Ｘ射线荧光异常出现在垂直于金矿（化）体走向的两侧，砷的Ｘ射线荧光在金矿（化）体上呈现异常。     

TZP陶瓷的X－射线定量相分析

采用Ｘ－射线衍射方法研究了四方相氧化锆多晶（ＴＺＰ）陶瓷中的物相，提出了应用四方相氧化锆（Ｔ－ＺｒＯ２）双谱线峰强度比Ｉ（２００）／Ｉ（００２），计算ＴＺＰ陶瓷中立方相氧化锆（Ｃ－ＺｒＯ２）含量的Ｘ－射线定量相分析方法．通过力学性能测试进一步验证了Ｃ－ＺｒＯ２的存在对ＴＺＰ陶瓷断裂韧性Ｋ１ｃ和抗折强度的影响．     

α－AL_2O_3单晶体的X射线衍射仪法分析

以α－ＡＬ２Ｏ３单晶体为例，探索了现代Ｘ射线衍射仪法分析技术在晶体取向和晶向偏离角测试方面的应用。采用该方法测试的（０００１）晶面的晶向偏离角为＝４．９７°，经ＴＥＭ电子衍射菊池线测试（０００１）晶面晶向偏离角△θ＝５．１１°，误差小于０．２°。表明本文提出的Ｘ射线衍射法测试单晶体晶体向偏离角具有简捷、精确及可靠性高的优点。     

HoNiSn的X射线粉末衍射数据

给出指标化的ＨｏＮｉＳｎ相的Ｘ射线粉末衍射数据。该化事物属正交晶系，ａ＝７．０６５８（６）Ａ，ｂ＝７．６４５５（２）Ａ，ｃ＝４．４３９６（１）Ａ。每个晶胞有４个化合式量，空间群为Ｐｎａ２１。     

碘化汞室温X射线探测器的研制

碘化汞室温Ｘ射线探测器的研制李正辉，邹联隆，曹瑞钦，李伟堂（材料科学系）自本世纪７０年代初Ｗｉｌｌｉｎｇ等首先用碘化汞（ＨｇＩ２）晶体制成室温半导体核辐射探测器［１］以来，该晶体在生长和应用等方面都取得了很大的进展［２～４］．由于ＨｇＩ２晶体有效原子...     

仲钨酸铵的合成及其X射线晶体结构分析

以三氧化钨（ＷＯ３）和六甲基二硅烷胺（（ＣＨ３）６Ｓｉ２ＮＨ）为原料在水溶液中反应制得了标题化合物，单晶Ｘ射线结构分析表明，属正交晶系，空间群Ｐｂｃａ，晶胞参数α＝１．０９０６（１），ｂ＝１．９０７７（１），ｃ＝２．４４１８（３）ｎｍ，Ｖ＝５．０８０３（８）ｎｍ＾３，Ｚ＝４，Ｄｃ＝４．１８ｇ／ｃｍ＾３，对５８１０个独立的衍射蹼进行全矩阵最小二乘法修正后，可靠性因子Ｒ＝０．０３８０。     

New achievements in X-ray optics??the X-ray lens and its applications

An X-ray lens consists of a large number of X-ray capillaries. It can collect divergent X-rays emitted from an X-ray source and form a focused or parallel beam of high intensity. So it is an effective tool for adjusting and controlling wide bandwidth X-ray beams. In this paper, the X-ray lens made by the X-ray Optics Laboratory of Institute of Low Energy Nuclear Physics at Beijing Normal University and its applications in the field of X-ray analysis are presented.     

NSRL衍射和散射站的性能及在材料科学中的典型应用

介绍了国家同步辐射实验室二期工程X射线衍射和散射光束线实验站的建设与主要设备．利用设备采用X射线反射法，在不破坏样品的情况下得到了Si／C多层膜的结构信息；通过对标准Si粉末样品的FWHM测试表明该站可进行粉末全谱扫描；利用X射线掠入射衍射技术分析了ZnO薄膜的生长条件与结构的关系；采用X射线散斑方法直接观测了弛豫铁电体内部的纳米空间尺度的电极化团簇的空间时间构造．     

铍焊件残余应力X射线断层扫描测定法

铍是广泛应用于核能、航空和航天工业的稀有轻金属，作为结构材料，因加工过程而引入的残余应力对其制品的使用将带来不良影响，测定残余应力的大小具有重要的意义。针对传统X射线残余应力检测技术，提出了X射线断层扫描测定法。该方法利用现有仪器，通过改变测定技术和计算方法，可以无损测定铍等轻金属制品表面残余应力及沿层深的分布。采用这一新方法计算了弧形铍焊件焊缝附近表面、距表面0．5mm和1．0mm处的残余应力，同时还计算出铍无应力(103)晶面的面间距d0，结果与根据晶面间距公式计算出的铍（103)晶面的面间距吻合较好。     

X光管的构造、原理及应用

针对多种不同类型的X光管的结构性能进行了综合阐述。介绍了一般常规的X光管的构造、主要部件的工作原理以及影响其性能的参数设置,并对几种具有特殊结构的反射式X光管的结构设计、适用范围、性能优势等作了系列说明。分析了透射阳极X光管的结构及其具有的较高射线产生率和辐照通量密度的特点,从热膨胀系数及晶格常数匹配角度探讨了靶材选取的依据。研究结果表明,X光管在其发展完善的过程中,阴极和阳极的结构设计会对其性能产生重大的影响,阴极的装配高度和阳极的构造形态会影响到X射线的产生效率,各种结构设计方式终其目的都是要获得更加稳定的X射线束,更加灵巧轻便的装配,以及有效的辐照通量和更低的功率损耗。     

高电荷态离子129Xeq+激发Au表面产生的X射线谱

目的研究高电荷态离子129Xeq (q=28,29,30)入射金属Au表面产生的特征X射线谱。方法应用高电荷态离子束流激发。结果在束流强度小于139 nA条件下,单离子的X射线产额可达10-8量级,特征X射线的产额随入射离子的动能和势能(电荷态)的增加而增加。结论与传统的X射线产生方法不同,高电荷态离子可以激发重原子的内壳层特征X射线谱,其产额高,品质好。     

基于能量色散X荧光分析法测溶液浓度

目的 溶液浓度是一项重要的计量参数,溶液浓度测量广泛应用于工业和科学研究等领域。为了快速、准确测量溶液浓度,本文提出了能量色散X荧光分析方法。方法 将配制好的10种三氯化铁溶液作为标准溶液,利用能量色散X荧光分析方法测量出溶液中Fe的特征 X 射线峰峰面积,得到三氯化铁溶液的标准曲线,利用该标准曲线,对5组三氯化铁溶液进行了测量。结果 实验结果表明,三氯化铁的浓度与溶液中Fe元素的特征 X 射线峰的峰面积成较好的线性关系。且对五组三氯化铁待测溶液浓度进行数据分析,结果表明实验测得最大误差为1.74%,其他误差都在1%以内,小于传统的折射率测量误差（大约 3%）。另外,为了进一步分析其精确度,分别计算了浓度梯度差。由梯度差可知,最大梯度差为 3.71%,绝大多数在1%以内,最小为0。结论 该方法具有较高的精确度,且出数据快,随测随得,为快速、准确测量溶液浓度提供参考。     

机械合金化Fe100-xCux体系的结构

利用XAFS和XRD方法分别研究了机械合金化80 h制备的Fe_100-xCu_x 系统的晶体结构及Fe和Cu原子的局域配位环境.结果表明,当x＞40时,样品中Fe原子的bcc结构消失,Cu原子的近邻结构基本不变,fcc晶格参数随x的增加而减小;当x＜30时, Cu原子的fcc结构消失, Fe原子的近邻结构基本不变,bcc晶格参数随Cu原子的比例减小而增大;而x=30左右时,fcc和bcc结构共存.研究结果还表明, Fe原子和Cu原子的比例不是相差很大时,Fe原子和Cu原子的近邻配位无序度会在很大的范围内变化,说明Fe-Cu二元体系不可能形成均匀的过饱和固溶体,存在Cu富集区和Fe富集区,是由多种物态组成的混合物.     

纳米SiC颗粒SAXS表征及其与 XRD、SEM的比较

对在不同工艺下制备的两组纳米SiC颗粒分别进行了小角X射线散射(SAXS)、X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)测试．结果显示，两组颗粒试样存在尺寸和粒度分布差异，不同测量方法所包含的信息各有侧重．利用二维探测器XRD系统进行了SAXS和XRD测量，探讨了该系统在SAXS测量中的数据采集和处理方法，对这些测试结果及其与SEM的结果进行了综合分析比较．发现SAXS更适合于样品尺寸的总体状态表征。能提供更丰富的信息，计算结果更可靠．