压力对铍/铜/HR-1不锈钢热静压组织结构的影响

在800℃下,分别在20、30、40、50MPa压力下对铍/铜/HR-1不锈钢进行真空热静压扩散连接。利用光学金相、显微硬度计、扫描电镜(SEM)、俄歇电子能谱(AES)和X射线衍射仪(XRD)分析了接头扩散区的微区成分和组织结构;探讨了扩散区成分,组织结构与压力的关系。研究表明:压力的作用将使试样产生动态形变再结晶和扩散性蠕变,也能影响扩散焊区的扩散宽度、晶粒大小和金属间化合物数量;单轴向压力作用下,基材或扩散焊区出现织构;降低铍/铜/HR-l不锈钢接头性能的主要因素是金属间化合物优先沿晶界生成,适当降低压力或缩短热压时间可减少金属间化合物的形成,改善连接性能。     

正电子湮没技术对YAG/Nd晶体缺陷的研究

用正电子湮没技术对YAG/Nd晶体不同位置进行了探测。实验结果表明,YAG/Nd晶体的不均匀性、缺陷的分布以及退火处理后晶体缺陷减少的情况与正电子寿命,多普勒增宽线形参数有对应关系。紫外光谱分析说明,YAG/Nd晶体中缺陷捕获态主要与色心有关。     

离子氮化机理的初步探讨(二)

对氮化表面沉积物进行x射线物相鉴定,发现沉积物为a-Fe、Fe_2N、Fe_4N、FeC以及Fe_3O_4,说明氮化时FeN→Fe_2N→Fe_3N→Fe_4N的分解反应是正确的。碳钢氮化层电子探针分析表明,氮浓度极大值位于扩散层与基体组织之间,而碳浓度较基体组织高,可能存在碳由基体组织向氮化层反向扩散的问题。用电子显微镜观察轰击表面,得到与金相显微镜观察相一致的结论。用x射线测定了离子轰击点阵静畸变,发现离子轰击和高温回火(520℃)产生ε→ε+r’的转变。     

纯铁离子氮化后时效的X射线衍射分析

用x射线衍射发现,工业纯铁氮化后时效将引起ε→α″→γ′转变,ε相具有调幅结构。该结果为化合物层时效强化找到了理论依据。     

二次康普顿散射和产生双光子的康普顿散射

从康普顿散射的基本原理出发,基于能量、动量守恒定律和相对论效应,首先讨论了康普顿散射中的二次散射,得出波长的改变量不仅与散射角有关,还与入射光子的波长(频率)有关;其次讨论了产生双光子的康普顿散射,由于这种散射的复杂性,只选取了两种特殊情形来讨论,得出散射光子的频率不仅与两个散射光子的散射角有关,还与入射光子频率有关,单一频率的入射光子发生双光子散射后,散射光子波长的改变还可能是连续变化的;康普顿散射实验说明二次散射和双光子散射的发生是可能的。     

Q235连铸板坯中非金属夹杂物的分析

为了进一步提高产品质量，提高钢材的纯净度，采用了光学显微镜、扫描电镜、x射线能谱仪以及电解称重法对威钢板坯连铸生产过程中非金属夹杂物的类型、数量、大小、组成及分布等进行了研究，并且讨论了目前生产工艺中非金属夹杂物的来源．结果表明：板坯的夹杂物主要是小于φ 10 um的球形硅酸盐夹杂物，有少量的多边形夹杂物；有单相的也有多相的夹杂物；在板坯厚度和宽度方向上都是在1／4和1／3位置处出现聚集．夹杂物主要是由于钢液脱氧产生的内生夹杂物．     

康普顿散射在材料无损评价中的应用前景

康普顿散射是X射线(或γ射线)与物质发生相互作用时波长变长的散射,也称不相干散射.研究表明,散射线的波长随散射角的变化而有规律的变化,其散射强度和被散射体的原子序数和电子密度有关.介绍了康普顿散射在密度测量、厚度测量方面的应用,讨论了利用康普顿散射成像来进行缺陷检测等方面的问题,同时介绍了康普顿散射在安全检测、医药技术、食品加工等其他领域的应用.展望了康普顿散射在材料无损评价中的应用前景.     

机械合金化的研究进展

机械合金化(MA),作为制备合金粉末的一种高新技术,使过去用传统熔炼工艺难以实现的某些物质的合金化和远离热力学平衡的准稳态、非平衡态及新物质的合成成为可能.MA技术引起了材料科学界的广泛关注.综述了近年来机械合金化在理论模型和固态反应方面的研究情况,详细介绍了MA技术在制备弥散强化合金、金属间化合物、功能材料和亚稳材料(包括非晶、准晶、过饱和固溶体、纳米晶等)中的应用进展,展望了机械合金化的发展趋势.     

离子氮化机理的初步探讨(一)

在相同的氨流量和氨压下,进行气体氮化与离子氮化的对比实验,证明离子氮化比气体氮化的效果好。用X射线衍射仪法和金相法观察离子轰击对试样表面的影响,说明离子轰击后的试样表面存在二类、三类应力,点阵发生严重畸变,并出现大小不等的坑洼,沿晶介处尤为显著。表层大量缺陷的存在,促进了氮的扩散过程。离子氮化后的金相试样,在稀薄空气中进行离子轰击,试样表面硬度大幅度上升,与高能粒子(γ射线、α射线以及β射线)等照射金属与合金引起的硬度上升相似。这与轰击产生的畸变有关外,可能有新相析出,原因有待进一步探讨。用探极法测定了辉光放电等离子区的离子浓度,研究氮流量与离子浓度的关系,及对氮化层的影响,说明在大氨流量下离子浓度下降,氮化层深度减少,证明采用小氨流量是合理的。     

三维残余应力及深度分布的X射线分析和计算

针对X射线法在测定铍等轻元素材料内部残余应力及其深度分布时的不足，研究一种分析和计算轻元素材料内部全三维残余应力及其深度分布的新方法，提出了包括考虑平衡条件和表面边界条件的基于线弹性理论的一种模型方程，对分析和计算原理，实验装置和实验作了介绍，编制出相应的计算机数据处理程序，能够对轻元素材料表面及内部任何一点进行全三维残余应力分析和计算，文中最后用铍的实验数据对程序进行了验证，结果表明，正应力分量σ11，σ22随黉度的变化较大，而切应力分量σ12，σ13和σ23及正应力分量σ33均很小。