微纳流体样品片上分离技术

基于微流控技术的细胞或颗粒分离是样品前处理中的一个重要步骤,近些年在生物和化学分析中引起了极大关注,随着微纳米加工技术的发展,分离技术在片上实验室系统的微环境应用中得到快速发展.基于微流体细胞或颗粒的分选技术具有很多优点,包括减少了样品量、加速了样品处理速度、高灵敏度、高空间分辨率、成本低以及便携性等.本文介绍了当前最先进的基于连续微流体细胞或颗粒分选技术,从被动式与主动式分离两方面的典型实例详细阐述了各种分选原理及其在细胞或微颗粒分选中的应用,讨论了这些技术的主要指标,如分选标记、分辨率、效率以及处理量,同时讨论了各类在微流体下的微分离方法存在的缺点.微尺度下高效的微分离技术在实现片上实验室、现场微分析设备和家庭诊断中将会起着越来越重要的作用,引起了众多学者们的研究兴趣,能够促进微分离与检测和信号读取等集成于一体,形成一个便携式的诊疗设备.     

研究简报(Nd_(1-x)Er_x)_3 Fe_(27.31)Ti_(1.69)化合物的磁晶各向异性

用振动样品磁强计并结合X射线衍射准确判定了Nd2.4Er0.6Fe27.31Ti1.69化合物的磁晶各向异性方式,研究结果发现,Nd2.4Er0.6Fe27.31Ti1.69化合物的磁晶各向异性从室温时的易面转变到低温时的易锥.     

Co80+xZr20-x合金的永磁性能

利用X射线衍射和磁性测量研究Co_80+xZr_20-x（x=0,1,2,3,4）合金、 快淬薄带的结构与磁性. 结果表明, 所有样品的比饱和磁化强度均较大, 且在实验范围内随退火温度的升高而增加; 经750℃热处理2 h后, Co₈₁Zr₁₉样品的比饱和磁化强度达到最大值128 (A·m2)/kg; Co₈₂Zr₁₈快淬样品在25 m/s速率下的矫顽力最大, 为60 kA/m, 根据该样品中Co5Zr相的含量较大可知, Co₅Zr相为Co-Zr合金的硬磁相; 由初始磁化曲线可知, 所有样品的矫顽力机制为成核模型.      

模拟电子技术基础课程建设的探索与实践

模拟电子技术基础课程建设纳入了我校的教学研究项目,本文对该项目的工作进行了阶段性地论述:在学校改革大框架下加大资金投入和充实教师队伍;课程选用新教材,充分利用现有的市场教育资源,发挥个性化的教学方式;以及对若干教学环节的探索与实践,包括讲好绪论课,协调少课时、多内容的矛盾,设置相应的选修课和作业、考试的改革等等.     

基于PSoC芯片USB通信的温湿度测量系统的设计与实现

PsoC(Programmable System on Chip)内部具有丰富的数字资源和模拟资源[1],在小型系统设计方面得到越来越广泛的应用.本文介绍了基于具有全速UsB接口的PSoC芯片CY8C24794的温湿度测量和通信系统的设计方法和实现.该系统小巧实用,节省了USB接口芯片、AD等功能芯片,充分体现PSoC芯片的高集成度给开发带来的方便.     

LaCo13-xAlx快淬薄带的结构与磁性

用快淬工艺合成并得到立方NaZn₁₃结构的LaCo_13-xAl_x （1.2≤x≤2.4）系列三元金属间化合物, XRD测量结果表明, 在1.2≤x≤2.4内, 快淬速度为30 m/s时制备出的快淬薄带均具有立方NaZn₁₃型结构. 用振动样品磁强计（VSM）和超导量子磁强计（SQUID）对快淬薄带的磁性进行研究. 由于无磁性的Al原子对Co原子的稀释作用, 使得低温饱和磁矩随Al含量的增加而降低, 实际测定的饱和磁矩比稀释模型的下降速度快, 表明加入金属Al不仅减少了Co原子的数量, 同时也降低了Co原子的磁矩.      

(Nd1-xErx)3Fe27.31Ti1.69化合物的磁晶各向异性

用振动样品磁强计并结合X射线衍射准确判定了Nd_2.4Er_0.6Fe_27.31Ti_1.69化合物的磁晶各向异性方式, 研究结果发现, Nd_2.4Er_0.6Fe_27.31Ti_1.69化合物的磁晶各向异性从室温时的易面转变到低温时的易锥.     

Co80＋xZr20-x合金的永磁性能

利用X射线衍射和磁性测量研究Co80 xZr20-x(x=0,1,2,3,4)合金、快淬薄带的结构与磁性. 结果表明, 所有样品的比饱和磁化强度均较大, 且在实验范围内随退火温度的升高而增加;经750 ℃热处理2 h后, Co81Zr19样品的比饱和磁化强度达到最大值128 (A*m2)/kg;Co82Zr18快淬样品在25 m/s速率下的矫顽力最大, 为60 kA/m, 根据该样品中Co5Zr相的含量较大可知, Co5Zr相为Co-Zr合金的硬磁相;由初始磁化曲线可知, 所有样品的矫顽力机制为成核模型.     

聚合物棱镜耦合SPR芯片的研究

为了开发用于生物医学和化学检测的小型化表面等离子体谐振分析芯片,采用了体硅工艺和聚合复制工艺,研制出聚合物棱镜与耦合玻璃层的SPR芯片及微流体沟道.在理论上分析了聚合物折射率、耦合玻璃层的折射率和厚度、金膜厚度及光学干涉对SPR曲线的影响,分析表明聚合物与耦合玻璃层的折射度差值是影响SPR曲线的主要因素.在波长650 nm,金膜厚度为50 nm时,采用角度调制的方式,测试以水和空气为介质的SPR曲线,测试结果与理论分析很相近.