X光透镜在同轴X光位相成像中的应用

介绍了同轴X光位相成像的基本原理,说明了位相成像与普通吸收成像的区别;初步研究了X光透镜在位相衬度成像中的应用,利用整体会聚X光透镜将大焦斑光源汇聚为微焦斑,从而使出射的X光满足位相衬度成像所需的空间相干条件,得到了较好的实验结果,为进一步研究X光透镜在该领域的应用打下了基础.     

整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中的应用研究

结合整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中应用研究,利用整体平行束X光透镜和粉末衍射仪设计了一种实验室EXAFS谱仪.工作电压和电流分别为25 kV和100 mA时,该谱仪在9.92 keV能量点处,计数率为3.12×104 s-1,在钨杂质的特征谱线Lβ1能量点处,能量分辨率为15.4 eV.整体平行束X光透镜在该谱仪中既起到会聚X射线的作用又可实现高能滤波器的功能.对实验现象进行了理论分析.     

椭球单毛细管高能X射线微焦斑透镜模拟表征

To obtain high-energy X-ray micro-focal size for monocapillary X-ray lens in X-ray micro-area analysis, a high-energy X-ray micro-focal spot lens based on ellipsoidal monocapillary was designed and simulated．The inner surface of lens coated with metal oxide film was simulated, the composition of which was HfO₂．Simulations showed that both coated and ordinary glass lens could focus X-rays at 100 keV into a focal size below 10 microns．Compared with ordinary glass lenses, the upper limit of X-ray focusing energy was increased 2-fold after coating the lens．To improve input flux, the coated lens was redesigned．Compared with glass lens, newly coated lens showed a 3.8-fold increase in luminous flux at the focal size at 100 keV, the power density gain increased by an order of magnitude, indicating that lens coating was valuable to focus high-energy X-rays．It is concluded that simulations could guide fabrication and application of ellipsoidal monocapillary high-energy X-ray lenses．      

使用X光透镜和位置灵敏正比计数器的高能量分辨微束XRF谱仪

报导一种新型微束X荧光分析谱仪,它由导管X光透镜和使用位置灵敏正比计数管的波长色散谱仪组成.谱仪具有高空间分辨,高能量分辨和高灵敏度的特点.从实验上研究了影响谱仪能量分辨的各种因素及用于稀土元素L线分析的可能性.实验结果表明谱仪使用X光透镜形成的X光微束的最小束径对Mo-Kα线为30μm,谱仪对Ti-Kα线的能量分辨为4.4 eV,对稀土元素L线的最低探测极限达到10-10g.     

大口径椭球型单管X射线聚焦镜设计与仿真

针对同步辐射光源点到样品距离长的特点,设计了镀膜与非镀膜这2种大口径椭球型单管X射线聚焦镜,并利用带有面型误差模型的仿真程序模拟了这2种大口径椭球型单管X射线聚焦镜的聚焦性能．结果表明:镀Ir膜的大口径椭球型单管X射线聚焦镜的入口直径、焦斑尺寸、焦深分别为19.0 mm、7.1 μm和0.2 mm,接收立体角约为未镀膜聚焦镜的3倍;未镀膜聚焦镜的入口直径和焦斑尺寸分别为15.0 mm和6.4 μm,焦深为镀Ir膜聚焦镜的4倍．分析了大口径椭球型单管X射线聚焦镜的面型误差对其焦斑尺寸的影响,讨论了大口径椭球型单管X射线聚焦镜的应用前景．      

以金属为反射面的单毛细管X射线光学元件

讨论了X射线反射材料和反射材料表面粗糙度对毛细管光学元件传输效率的影响,介绍了近年来以金属为反射面的单毛细管光学元件的研究进展,并对该类元件的未来发展进行了展望.     

用散射法测量整体X光透镜性能

提出了一种测量X光透镜性能的新方法--散射法.该方法可以在多能量点同时测量X光透镜的性能.利用该方法测量了X光透镜的传输效率和焦斑大小,并将结果与以往加吸收片法作了比较,从实验上证明了这种方法的可行性与优越性.