基于难测故障冲突分析的非扫描可测性设计

时序电路的测试生成非常复杂.时序电路的可测性设计对于指导电路设计及测试生成是十分重要的.基于对在测试生成过程中的难测故障进行冲突分析,提出了一种新的评价电路可测性的测度conflict+,并在此基础上提出了一种两阶段的非扫描可测性设计方法.这种新的测度可以体现出时序ATPG中的绝大部分特征.运用该方法对一些实验电路进行可测性设计后,结果表明比近期的两种非扫描可测性设计方法nscan和lcdft在故障覆盖率、测试效率等方面都取得了更好的效果.     

专用VAD集成电路可测性设计研究

在专用集成电路设计,基于功能单元的片上系统（FCBSOC,function-core-based system-on-a-chip)设计技术正得到广泛使用。这种片上系统的可测性设计方法很多,如Fscan-Bscan法、Fscan-Tbus法和层次化测试生成法等。通过对这些可测性设计方法的研究,该文提出一种测试开销低、测试故障覆盖率高的层次化分析法来实现专用VAD（Video add data)集成电路的可测性设计。     

一种基于电路自反馈的测试向量产生算法

内建自测试（BIST）是可测性设计中常用的方法,其中的测试电路部分要占用一定的芯片面积。提出并实现了一种基于电路自反馈的测试向量产生算法,通过将被测电路中的一些内部节点反馈连接到被测电路的输入端,由电路自己施加测试向量进行测试。该方法可以减少BIST的面积开销,实现全速测试,同时还能保证较高的故障覆盖率。     

基于UWB的128点FFT处理器的可测性设计

介绍了基于扫描测试的DFT原理和实现步骤,并对应用于UWB无线通信的128点FFT处理器进行可测性扫描设计.利用DFTCompiler实现了扫描链的综合,其故障覆盖率为99.96%.扫描链条数为16,最终实现可测性网表的输出,并在后端版图工具Soc Encounter中实现扫描链的正确识别.     

3DSoC的多频测试架构设计

随着芯片集成度的提高,三维片上系统（three-dimensionalSystemonChip,3DSoC）是集成电路发展的必然趋势,其中可测性设计成为研究的重点．为了降低测试代价,提出一种符合工业实际的多频测试架构及适用于该架构的测试算法,并结合功耗对测试架构进行了仿真实验．实验结果表明,与传统的SoC相比,在同样TAM测试数据位宽数限制下,多频架构的3DSoC测试时间更短,测试代价更小．     

雷达系统级测试的边界扫描方法

研究雷达机内自测试ＢＩＴ的实现及雷达系统级测试。依据结构可测性设计方法,采用可编程逻辑器件设计电路板级测试单元,把芯片级边界扫描扩展到雷达系统级测试,并将该方法应用到雷达信号处理机中,给出了板级边界扫描结构和系统级测量试的组成结构。     

一种高速ADC静态参数的内建自测试结构

针对混合信号电路的测试问题,提出了一种内建自测试(BIST)结构,分析并给出了如何利用该结构来计算片上高速模数转换器(ADC)的静态参数.该方法利用三角波信号作为测试激励,采用码密度直方图分析方法快速计算ADC的各静态参数.根据改进测试算法所构造的BIST结构实现了芯片内只有ADC电路的可测性设计,而不需要用到片内集成DSP.内嵌的信号发生器能自动生成高频连续三角波测试信号,适合高速ADC的测试.该BIST结构硬件开销小,易于片上集成,仿真试验表明了该结构的有效性.     

高清晰度电视信道接收芯片的可测试性设计

高清晰度电视 ( HDTV)信道接收芯片 ( 8VSB)的测试策略主要包括全速全扫描的内部测试、片载内存的自检测 ( BIST)以及 IEEE1 1 49.1边界扫描测试 .该芯片总共有 2× 1 0 6个晶体管 ,集成有大量的片载内存 ,并在总体设计时间与实现成本上都有约束 ,给测试工作带来了额外的负担 .讨论了如何使用 DFT技术为该芯片提供高可靠性的测试 ,从实现结果来看 ,到达了芯片代工厂对测试向量总数与测试覆盖率的要求 ,满足了试流片的需要     

基于扇出因子计算的动态可测性分析方法

可测性分析用于指导数字系统的计算机辅助测试与设计．传统的静态可测性分析法可信度差,我们分析了这种原因,发现数字系统的逻辑性在测试生成中随时间（动态）变化是导致静态可测性分析失真的根本原因．据此,提出了一种新的动态可测性分析法．该法以多扇出重汇聚分析为基础,引入新概念扇出因子,成功地刻划了可测性分析的动态性,因而可在线性时空消耗条件下,获得高精度的可测度,并实现冗故障的充分识别．     

分支结构电路的可测性设计优化

在硬件设计的初期可以对硬件测试中条件分支结构引起的测试向量冗余问题加以解决.以ALU为例,提出了两种分支结构电路的可测性优化设计,通过调整分支电路的选择条件来控制测试向量的施加,在保证错误覆盖率的同时可以明显减少不必要的测试向量.     

基于赋值判决图的AT89C51微处理器全速电流测试实验研究

全速电流测试是一种新的电路测试方法,以AT89C51微处理器为例,说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.实验中将80C51内核的HDL描述转换为赋值判决图（ADD）,然后由ADD产生测试所需的指令序列,最后令微处理器重复执行产生的指令序列,并用普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流.实验结果表明,用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的.通过测试所有的数据通路,不仅可以检测数据通路的故障,而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误.     

Deterministic Circular Self Test Path

Circular self test path (CSTP) is an attractive technique for testing digital integrated circuits(IC) in the nanometer era, because it can easily provide at-speed test with small test data volume and short test application time. However, CSTP cannot reliably attain high fault coverage because of difficulty of testing random-pattern-resistant faults. This paper presents a deterministic CSTP (DCSTP) structure that consists of a DCSTP chain and jumping logic, to attain high fault coverage with low area overhead. Experimental results on ISCAS'89 benchmarks show that 100% fault coverage can be obtained with low area overhead and CPU time, especially for large circuits.     

基于遗传算法的分割可测试设计

基于遗传算法,建立了片上系统芯片(SOC)的图模型,对逻辑级的SOC结构进行精确量化;然后,对模型应用遗传算法进行分析,得到了电路的理想分割结果;最后,基于分割结果,实现一颗SOC的可测试设计(DFT).实验结果表明,在分割的均匀度与附加电路代价方面,该方法相比原有的DFT方法有显著的改进.     

基于威布尔分布的动态故障树对DEH控制系统优化的评价研究

对于火电厂汽轮机组并网运行阶段的数字电液控制系统(Digital Electro-Hydraulic Control System,DEH)的不足,进行了逻辑优化。进而需要对优化后DEH控制系统的可靠性进行评价。目前可靠性评价中,大都假设设备运行于偶然失效期,失效率假定为常数。然而,实践证明当设备运行于耗损失效期时,失效率服从威布尔分布。因此,将威布尔分布和马尔可夫模型相结合,建立了优化后DEH控制系统失效的动态故障树(Dynamic Fault Tree,DFT) 模型。对运行于耗损失效期的DEH控制系统的可靠性进行了研究,验证了优化后DEH控制系统可靠性的提高,为设备长时间运行后的可靠性评估提供依据。     

Quantization of wavelet packet audio coding

Abstract The method of quantization noise control of audio coding in the wavelet domain is proposed. Using the inverse Discrete Fourier Transform （DFT）, it converts the masking threshold coming from MPEG psycho-acoustic model in the frequency domain to the signal in the time domain; the Discrete Wavelet Packet Transform （DWPF） is performed; the energy in each subband is regarded as the maximum allowed quantization noise energy. The experimental result shows that the proposed method can attain the nearly transparent audio quality below 64kbps for the most testing audio signals.     

核电厂设备冷却水系统动态可靠性评估方法

核电厂设备冷却水系统作为一类双重冗余的系统,存在复杂的动态时序失效行为。传统故障树分析法缺乏对时间因素的描述,对设备冷却水系统中的动态时序问题分析假设过于保守。针对上述故障树分析法的局限性,结合动态故障树（dynamic fault tree, DFT）和动态贝叶斯网络（dynamic Bayesian network, DBN）,提出了一种核电厂设备冷却水系统动态可靠性评估方法：首先在设备冷却水系统结构功能的基础上构建系统DFT模型;然后根据转化规则将DFT模型转化为DBN模型;最后通过DBN正向推理得到设备冷却水系统可靠度曲线,反向推理得到根节点的后验概率排序,敏感性分析识别系统薄弱环节。评估结果表明：所提出的方法能够为提高系统智能维修维护水平和可靠性提供依据。     

基于融合系统方法的飞机复杂系统安全性分析

面对日益复杂的飞机系统,传统的安全性分析方法对复杂系统间的不安全交互行为和危险源的识别能力不足。为有效评价持续适航阶段的飞机系统安全性,提出了一种融合系统理论过程分析(STPA)和动态故障树(DFT)的改进的STPA安全性分析方法和评价模型。模型采用STPA识别出不安全控制行为和致因因素,并将其与动态故障树分析方法相融合,以事故致因理论优化致因分析方法,计算得出不安全控制行为发生概率并确定系统潜在危险的关键致因因素。以飞机起落架系统为例进行分析验证,结果表明,改进后的STPA分析方法可以准确的对系统危险进行识别和分析,为持续适航阶段的安全性分析提供支持。     

同时计算实序列的DFT和实序列的DFT的IDFT的新公式

通过对离散傅里叶变换(DFT)的一些性质的分析,利用DFT的对称性和将一个复序列分解为4个奇偶序列之和的方法,改正了Gunther关于直接计算双实序列的DFT和实序列的DFT和逆离散傅里叶变换（IDFT）的公式中的少数错误,给出了新的同时计算实序列的DFT和实序列的DFT的IDFT的直接公式,并给出了证明.     

同时计算二维实序列的DFT和二维实序列的DFT的IDFT的新公式

利用二维离散傅里叶变换(DFT)的一些性质,将Gunther提出的关于同时计算一个N点实序列的DFT和另一个N点实序列的DFT的逆离散傅里叶变换(IDFT)的4个新的直接公式中的第1和第4个公式,以及他提出的关于同时计算2个N点实序列的DFT的新公式推广到了二维的情形,并给出了相关证明.这些结果在处理实信号时是非常有用的.     

用一个2维DFT计算实矩阵的二维DFT和另一个实矩阵的2维DFT的IDFT的新公式及其应用

熟知,两个N维实向量的DFT,可以用一个N维复向量的DFT计算．最近,S．Moshe和D．Hertz提出一个方法用一个N维复向量的DFT计算一个N维实向量的DFT和另一个N维实向量的DFT的IDFT．这是一个优美的结果,具有理论意义和应用价值．如何把上面的结果推广到二维的情形,是一个值得研究的问题．一个矩阵的2-D(2维)DFT通常用行列法化为1-DDFT来计算．但是,用行列法把上述一维的结果推广到二维是困难的．作者得到了计算二维情形的一些新的直接公式,其证明是简明的,它们分别推广了已有的结果．同时还指出,在数字信号处理中当处理实信号时,这些公式非常有用．特别地,作者改进了小波分析中的Mallat分解算法