基于向量优化重组的LFSR重新播种方法

提出了一种基于向量优化重组的LFSR重新播种方法。针对测试集中测试向量的确定位位数不同的特点,先对测试向量进行奇偶切分,接着进行重组,使新生成的测试向量中确定位大致相等。然后对新测试向量集进行LFSR编码,从而提高测试压缩率。该方案解压电路结构简单,并且种子的位数较少,与目前国内外同类方法相比,具有测试数据压缩率高、解压结构简单及测试时间少等特点。     

基于LFSR重复播种种子计算方法的初步研究

提出了一种新的基于线性反馈移位寄存器(LFSR)重复播种种子的计算方法.该方法计算得到LFSR重复播种中使用到的种子,重复播种后能够截断对故障覆盖率效率底的测试序列,每个种子得到长度可变的伪随机测试序列.对ISCSA85电路进行了仿真试验,仿真结果表明,该方法能够大量减少测试矢量长度,同时降低了测试时间.     

一种基于FDR的高测试质量测试压缩方法

FDR编码方法有效地降低了测试数据量,但其测试集中的无关位全部填充为0,平均每个测试向量检测的故障数目较少,测试质量较低.为了提高测试质量,并进一步提高测试数据压缩率,本文基于FDR方法提出了一种利用上一个测试向量的响应填充该测试向量中无关位的测试压缩方法.该填充方法提高了测试向量中无关位填充的随机性,从而提高了测试集的测试质量.提出方法的压缩效率与测试向量的顺序有关,基于最近邻居算法对测试集进行排序,降低了测试响应与下一个测试向量之间不相同的位数,对测试响应和测试向量差分处理后再进行FDR编码,从而降低了测试数据量.ISCAS’89电路中几个大电路的实验结果表明,与FDR相比该方法的测试质量平均提高了5.9%,测试数据压缩率平均提高了2.5%,而只需要增加一个异或门的硬件开销.     

低成本高故障覆盖率内建自测试方案

提出了一个基于重复播种的新颖的BIST（build-inself-test)方案，它使用侦测随机向量难测故障的测试向量作为种子，并利用种子产生过程中剩余的随意位进行存储压缩，通过最小化种子的测试序列以减少测试施加时间，实验表明，本方案需要外加硬件少，测试施加时间较短，而故障覆盖率高，近似等于所依赖的ATPG工具的故障覆盖率。     

最小游程切换点标记编码压缩方法

针对集成电路所需测试数据量庞大、测试成本过高的问题,该文提出了最小游程切换点标记编码压缩方法,将原始测试数据压缩,达到减少测试成本的目的。该方法将测试集按若干向量分组编码,利用组内向量游程切换范围的重叠关系合并游程切换点,可以将组内所有测试向量的游程位置用一个向量表示出来,突破了传统编码压缩要用编码字后缀表示游程长度的限制,相较于传统编码压缩,极大地缩短了编码字。该方法解压规则简单,硬件开销小, ISCAS 89标准电路实验结果表明:该方案压缩效果优于其他几类编码压缩方案,可为测试数据量过大提供有效解决方法。     

降低系统芯片测试时间的芯核联合测试方案

引入扩展的模式游程(x PRL)编码技术,通过无关位的动态传播策略以提高测试数据压缩效率.在此基础上,将系统芯片的多个芯核测试集联合为单一的测试数据流,用x PRL编码技术实施压缩,提出一种可重配置的串行扫描链结构,实现多核测试模式的联合应用.对嵌入6个大的ISCAS’89基准电路的样本系统芯片（SoC）应用建议的联合测试方案.结果表明,与传统芯核测试集独立压缩与应用技术相比,该方案不仅提高了测试数据的压缩性能,而且减少了扫描测试中的冗余移位和捕获周期,从而有效降低了SoC的测试应用时间.     

基于随机访问扫描的低功耗确定性测试方案

大规模高密度的集成电路在测试中面临着测试数据量大、测试时间长和测试功耗高的问题.为此提出了一种基于随机访问扫描(random access scan,RAS)的混合模式测试体系结构,该测试方法先通过自动测试模式生成一个确定测试集,再将确定测试集嵌入片上生成的测试序列中进行确定性测试.测试分两个阶段进行,第一阶段利用块固定折叠计数器生成的具有块固定特征的测试模式序列,测试电路中的大部分故障;第二阶段,通过位跳变方法生成确定测试模式,测试剩余的难测故障.在ISCAS-89基准电路上的实验结果表明,该方案不仅减少了测试存储量和测试时间,而且有效地降低了测试功耗.     

变长重复播种测试码生成方法

提出了一种变长重复播种测试码生成方法.该方法使用重复播种技术,但是每个种子产生的伪随机测试码序列的长度不同.每个种子可以产生长度为全长L,3L/4,L/2,L/4,和单个种子1的伪随机测试码序列.该变长技术的一个优点是可以有效地截去大量冗余伪随机测试码,减少测试施加时间.ISCAS85和ISCAS89电路的实验表明,同定长序列重复播种测试码生成相比较,平均减少近36.22%的测试时间(最多57.49%),面积增加仅为4.41%.     

一种基于测试数据两维压缩的BIST新方案

为压缩内建自测试(BIST)期间所需测试数据存储容量,提出了一种新的基于测试数据两维压缩的BIST方案。建议方案首先使用多扫描链相容及重排的方法对测试集进行宽度压缩,然后使用折叠计数器方案进行长度压缩,该建议方案的结构与标准的扫描设计是相容的;试验结果表明,与其他BIST方案相比,建议方案的测试数据存储容量和测试时间都大量减少。     

模拟退火算法在低功耗BIST中的应用

提出了应用模拟退火算法在一定长度的测度矢量集中寻找有效测试矢量的近似最优分组，在尽量减少面积开销的同时减少有效测试矢量的个数，并且通过置入种子的方法使LFSR产生近似最优分组的矢量，因此在保障故障盖主的前提下达到了降低测试功耗的目的。实验表明，采用此方法可降低测试功耗70％以上，而故障覆盖维持不变，此外，由于减少了测试矢量，测试时间也大为缩短，在实时系统中，减少测试时间尤为重要。