低功耗内建自测试的参数优选

提出了面向低峰值功耗进行BIST参数优化的问题,给出了相应的种子选取算法.实验结果表明该方法不需要额外的硬件开销,并在保证故障覆盖率的前提下峰值功耗有明显降低.     

模拟退火算法在低功耗BIST中的应用

提出了应用模拟退火算法在一定长度的测度矢量集中寻找有效测试矢量的近似最优分组，在尽量减少面积开销的同时减少有效测试矢量的个数，并且通过置入种子的方法使LFSR产生近似最优分组的矢量，因此在保障故障盖主的前提下达到了降低测试功耗的目的。实验表明，采用此方法可降低测试功耗70％以上，而故障覆盖维持不变，此外，由于减少了测试矢量，测试时间也大为缩短，在实时系统中，减少测试时间尤为重要。