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MEMS中硅的深度湿法刻蚀研究 总被引:1,自引:0,他引:1
探讨用于MEMS硅湿法刻蚀的刻蚀液浓度、温度、添加剂种类和浓度对刻蚀速率及表面粗糙度的影响,优化得到最佳刻蚀条件,刻蚀速率较常用刻蚀条件时提高约3倍;用扫描电镜观察刻蚀后的表面形貌,结果显示优化刻蚀条件下硅表面粗糙度得到极大的改善.以优化的刻蚀条件进行深度刻蚀,蚀刻出深达236μm的窗口,图形完整,各向异性良好. 相似文献
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为制备粗细均匀、大长度的硅纳米线,通过金属辅助化学刻蚀方法,以银作为辅助金属,利用场发射扫描电镜(FESEM)和FIB/SEM双束系统作为检测手段,结合微加工工艺,研究了不同的反应离子刻蚀时间和化学刻蚀时间对制备的硅纳米线的尺寸和形貌的影响。结果表明,通过该方法制备的硅纳米线粗细均匀、长度较大。控制反应离子刻蚀时间和化学刻蚀反应时间,可以控制硅纳米线的形貌与尺寸。 相似文献
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在直立平板电极鞘层内进行了硅粉表面刻蚀.使硅粉的纯度由99%提高到99.97%.提出了鞘区中离子和高能氩原子的平均能量和通量方程,建芷了包括高能中性粒子贡献的刎蚀速率计算式.实验和计算结果表明总的刻蚀速率可达到2.04×1015/(cm2·s)以上.文中还给出了反应区内粉粒沉降时间的方程和粉粒的收集判据.在一般工艺条件下,硅粉在反应区内的沉降时间为5~10 s,这意味着纯化目标必须经约40次循环才能实现. 相似文献
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在铁氧体磁场存在的情况下,通过研究涤纶膜(PET)表面的碳氟等离子体的改性效果受磁场的影响,讨论了带电粒子的行为及磁场对改性的影响.结果发现:磁场的存在使得PET表面的聚合区域向刻蚀区域位移,且主要依赖于磁场的强度. 相似文献
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磁控溅射靶磁场的分布 总被引:3,自引:1,他引:2
用麦克斯韦方程,推导了射频磁控溅射靶磁场的数学表达式,并研究了靶磁场的三维分布规律,得到了磁控靶的磁场在中心圆环有较强的水平分量,边缘有较强的垂直分量的结果,计算结果与实验结果相符。 相似文献
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针对蓝宝石晶体复杂的各向异性刻蚀特性,致使其刻蚀演化过程和结果难以预测和控制等问题,利用刻蚀半球法,获得了蓝宝石晶体在温度为(245±3)℃,体积比为V(98%H_2SO_4)∶V(85%H_3PO_4)=3∶1的混合浓酸溶液中刻蚀的全晶面刻蚀速率.对比分析了典型掩膜形状下的刻蚀微结构特征,探寻了速率各向异性特征与微结构刻蚀成型结构面之间的联系.结果表明:蓝宝石全晶面刻蚀速率呈现典型3次对称和多极值分布,且赤道附近刻蚀速率极低;浓磷酸作为刻蚀缓冲剂可以显著减少刻蚀过程中各类微观凸起的产生,有效提高微结构表面加工质量. 相似文献
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空磁控靶溅射刻蚀的模拟研究 总被引:1,自引:1,他引:1
建立了磁控溅射单粒子模型,结合靶表面磁场的分布,用MonteCarlo研究了溅射气体粒子的运动规律,得到靶表面刻蚀的图形,发现靶中间环的刻蚀最强,这与实验结果和磁场的水平分量分布一致。 相似文献
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将金刚石单晶孕镶在Fe基合金中,在一定条件下烧结,发现金刚石受到明显刻蚀,但晶体结构和强度未变,刻蚀在金刚石与结合剂的界面发生,它是金刚石晶格中的C原子溶入Fe,并在其中扩散的过程,适当控制这一扩散过程,将使Fe基结合剂的金刚石工具获得优良性能。 相似文献
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利用四极质谱和离子能量分析器,测定了紫外激光刻蚀PVC塑料产生的分子,原子和离子产物的质量分布和各种离子的平动能分布,研究了激光通量对刻蚀的影响,发现离子的产生需要比中性产物有更高的激光阈值,讨论了紫外激光对PVC塑料的刻蚀剥离机理。 相似文献
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由于常规等离子体刻蚀系统在晶圆边缘处的阻抗与晶圆中心处的阻抗不一致, 使离子在晶圆边缘处的运动轨迹发生偏移, 很难满足越来越高的刻蚀工艺均匀性及深宽比的要求。本文提出一种通过调整晶圆边缘阻抗进行边缘离子运动方向优化的方法, 可以连续实时地调整边缘离子的运动轨迹, 实现对边缘离子运动方向的控制。研究结果表明, 离子的运动方向可以被优化为垂直于晶圆表面, 从而能获得良好的刻蚀速率均匀性及垂直的刻蚀形貌。 相似文献
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PAN基炭纤维阳极电解表面刻蚀工艺研究 总被引:2,自引:0,他引:2
以H酸为电解质对国产PAN基炭纤维进行表面电解刻蚀处理。讨论了电解温度,电解时间,电解液质量数,电流强度对炭纤维抗拉强度的影响。结果表明,在优化工艺条件,炭的抗拉强度可由2.80GPa提高到3.61GPa,提高了28%,文中还对电解刻蚀提高炭纤维抗强度的机理进行了初步探讨。 相似文献