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MEMS中硅的深度湿法刻蚀研究
引用本文:张凯,顾豪爽,胡光,叶芸,吴雯,刘婵.MEMS中硅的深度湿法刻蚀研究[J].湖北大学学报(自然科学版),2007,29(3):255-257.
作者姓名:张凯  顾豪爽  胡光  叶芸  吴雯  刘婵
作者单位:湖北大学物理学与电子技术学院 湖北武汉430062
基金项目:武汉市科技攻关项目(20061002073)
摘    要:探讨用于MEMS硅湿法刻蚀的刻蚀液浓度、温度、添加剂种类和浓度对刻蚀速率及表面粗糙度的影响,优化得到最佳刻蚀条件,刻蚀速率较常用刻蚀条件时提高约3倍;用扫描电镜观察刻蚀后的表面形貌,结果显示优化刻蚀条件下硅表面粗糙度得到极大的改善.以优化的刻蚀条件进行深度刻蚀,蚀刻出深达236μm的窗口,图形完整,各向异性良好.

关 键 词:微机电系统  湿法刻蚀  深度刻蚀  刻蚀速率  表面粗糙度
文章编号:1000-2375(2007)03-0255-03
收稿时间:2006-06-21
修稿时间:2006-06-21

Study on the deep wet etching of the silicon for MEMS
ZHANG Kai,GU Hao-Shuang,HU Guang,YE Yun,WU Wen,LIU Chan.Study on the deep wet etching of the silicon for MEMS[J].Journal of Hubei University(Natural Science Edition),2007,29(3):255-257.
Authors:ZHANG Kai  GU Hao-Shuang  HU Guang  YE Yun  WU Wen  LIU Chan
Institution:Faculty of Physics and Electronic Technology, Hubei University, Wuhan 430062, China
Abstract:
Keywords:microelectromechanical system(MEMS)  wet etching  deep etching  etching rate  surface roughness
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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