电磁继电器触点面的SEM和XPS研究

使用X射线光电子能谱（XPS）和扫描电子显微镜（SEM）等表面分析方法,研究未启封、使用过失失效和使用过失效的继电器触点表面和形貌、组份和结构,结构表明,经过使用后触点表面烧蚀严重并发生磨损,其组份中含Ag、Sn、C和O等原子,C和O的XPS峰显示,触点表面氧化膜和碳化物的形成,导致接触电阻增大,从而影响继电器的稳定履使用寿命。     

继电器电寿命可靠性试验设备的设计

继电器的电寿命可靠性水平是产品设计与制造工艺的综合表现,同时也是继电器产品的核心功能。通过对继电器电寿命试验方法、失效形式、监测方法等方面的研究,探讨基于计算机数据采集技术的继电器电寿命可靠性试验设备设计方案。