首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

电磁继电器触点面的SEM和XPS研究
引用本文:徐富春,王水菊,汤丁亮,张棋河,林秀华,陆宁懿.电磁继电器触点面的SEM和XPS研究[J].厦门大学学报(自然科学版),2001,40(4):857-861.
作者姓名:徐富春  王水菊  汤丁亮  张棋河  林秀华  陆宁懿
作者单位:1. 厦门大学分析测试中心,
2. 厦门大学物理学系,
3. 厦门宏发电声有限公司,
基金项目:固体表面物理化学国家重点实验室基金资助项目(98011)
摘    要:使用X射线光电子能谱(XPS)和扫描电子显微镜(SEM)等表面分析方法,研究未启封、使用过失失效和使用过失效的继电器触点表面和形貌、组份和结构,结构表明,经过使用后触点表面烧蚀严重并发生磨损,其组份中含Ag、Sn、C和O等原子,C和O的XPS峰显示,触点表面氧化膜和碳化物的形成,导致接触电阻增大,从而影响继电器的稳定履使用寿命。

关 键 词:电磁继电器  触点表面  光电子能谱  扫描电子显微镜
文章编号:0438-0479(2001)04-0857-05
修稿时间:2000年12月14

Studies on Contact Points Wear of Electromagnetic Relay by SEM and XPS
XU Fu chun ,WANG Shui ju ,TANG Ding liang ,ZHANG Qi he ,LIN Xiu hua ,LU Ning yi.Studies on Contact Points Wear of Electromagnetic Relay by SEM and XPS[J].Journal of Xiamen University(Natural Science),2001,40(4):857-861.
Authors:XU Fu chun    WANG Shui ju    TANG Ding liang  ZHANG Qi he  LIN Xiu hua    LU Ning yi
Institution:XU Fu chun 1,2,WANG Shui ju 1,2,TANG Ding liang 1,ZHANG Qi he 1,LIN Xiu hua 2,3,LU Ning yi 4
Abstract:The methods of scanning electron microscopy(SEM) and X ray photoelectron spectroscopy(XPS) were used to observe and measure the electrical contact surface. The experimental results show that the contact point surface after continual operation has been ablated and worn. The surface layer contains Ag?Sn?C?O elements etc. The XP spectra of C ls and O ls show that the formation of oxide film and carbide results in an increase of contact resistance and sequentially affects the stability and useful life of electromagnetic relay.
Keywords:electromagnetic relay  contact pornts surface  X  ray photoelectron spectroscopy  scanning electron microscopy
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号