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基于片上系统的扫描链结构,针对全速测试研究了多扫描使能（SE）信号的可测性设计,并建立了新颖的测试资源 覆盖率（TR-TC）联合测试成本线性规划数学模型.研究结果表明,该模型不仅可以高效控制全速测试的测试资源消耗以及可测性设计复杂度,而且还可以确立SE信号数量的最优上限,进而避免了以盲目提升SE信号数量来提高转换故障覆盖率的纯理论方式,使面向片上系统全速测试的多SE信号可测性设计方法有一个可靠的目标控制值. 相似文献
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