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室内移动机器人路径规划研究 总被引:4,自引:2,他引:2
路径规划是自主移动机器人的研究重点。针对传统的A*算法搜索出的路径存在途径危险区域,未考虑机器人外形尺寸、路径不平滑等问题,提出了一种改进A*算法的路径规划方法。在新的栅格化环境地图中,通过改进的搜索策略进行路径搜索;并对路径点删减和优化,通过分段多项式曲线平滑路径。实验仿真结果表明,新方法生成的路径满足移动机器人的动力学和运动学特性,且更符合室内移动机器人的轨迹跟踪和运动控制,该方法简单有效。 相似文献
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应用部分生命周期(21天)慢性生物测试的方法,研究了植物生长调节剂农药多效唑和烯效唑对大型溲繁殖和发育的影响。试验结果表明,多效唑能明显影响大型溲母代和F1代的繁殖和发育,造成大型溲繁殖能力下降。发育延缓和生存能力降低。与多效唑相比,烯效唑除对大型溲的第一次产卵数及对F1代平均每溲产溲数外,对其他各项指标均无明显影响。 相似文献
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CMOS电路的静电放电失效分析 总被引:1,自引:0,他引:1
静电放电(ESD)对半导体器件的损伤是影响电子产品可靠性的重要因素.在ESD引起的损伤中,有90%的概率会造成器件在使用现场的早期失效,因此ESD会严重影响器件的可靠性. 我们用人体模型电路测量了部份CMOS电路的ESDS,对ESD失效器件作了分析;根据被测器件的ESDS的统计分布规律,计算了CMOS器件的静电放电失效概率. 测试方法按美军标Mil-Std-883C标准规定的要求研制了人体模型ESDS测试仪,其放电波形上升沿时间常数为14ns,下降沿为300ns.在每一电压水平上均对器件各进行五次正负放电,相邻两次放电的时间间隔为5秒. 相似文献
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利用色谱指纹图谱技术建立注射剂用银杏叶提取物生产工艺监控方法.本文参照国家药典委员会颁布的舒血宁注射液质量公示标准,采用RP-HPLC-DAD方法及中药色谱指纹图谱相似度软件对贵州大学生化工程中心银杏叶生产链中注射剂用银杏叶提取物生产工艺中主要的四道工序进行了质量监控.色谱柱为InertsilRODS-3 C18(4.6 mm×250 mm,5μm);流动相为0.4%磷酸水(A)—乙腈(B)系统,梯度洗脱;柱温为30℃;流速为1.00 mL/min;检测波长为360nm.结果与对照品全峰匹配,四道工序相似度为0.949-0.888,表明该方法操作简便、稳定、重复性好,可为注射剂用银杏叶提取物的生产提供实践依据. 相似文献
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光纤光栅传感器的原理及应用研究 总被引:8,自引:1,他引:7
作为性能优良的敏感元件,均匀光纤布拉格光栅、啁啾光纤布拉格光栅等多种传感器已经有了更多的直用领域。通过光纤布拉格光栅内部写入、干涉法侧面写入、相位模版法写入等制作技术的原理说明和对比评介,通过光纤光栅传感器对所在环境的应变、应力、温度变化和动态磁场的感应原理分析,以及对光纤光栅传感器在复合材料、电力系统、石油天然气井和建筑结构中的应用工程的综述,阐明了这一类传感器件在单参数传感测量,特别是多参数传感测量中还育很大的发展空间,值得进一步研究。 相似文献
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无压力传感器下的电子液压制动系统轮缸液压力控制 总被引:1,自引:0,他引:1
线控电子液压制动系统作为下一代汽车制动系统的主流解决方案,其轮缸液压力控制是实现车辆稳定性控制等主动安全功能的基础。针对四阀结构的集成式电子液压制动系统的成本与冗余问题,提出一种无轮缸压力传感器下的轮缸液压力控制策略。通过台架测试分析液压调节单元的工作特性,提出基于伯努利方程与轮缸PV(pressure volume)特性相结合的轮缸液压力估计方法,设计电磁阀开闭逻辑及基于减压优先的轮缸液压力均衡控制策略,最后通过台架试验进行对比验证。试验结果表明,所提出方法的液压力控制均方根误差在0.21MPa以内,与有液压力传感器方案的控制精度相当。 相似文献
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2014年4月26日至28日在东北典型黑土区乌裕尔河流域进行样点采集,测定了3种不同作物类型下(大豆、玉米和水稻)土壤有机碳、有机碳密度、p H、铵态氮、硝态氮、容重和粒度机械组成的含量特征,比较分析不同作物类型下土壤有机碳含量的差异及其影响因素.结果表明:不同作物对土壤有机碳含量具有显著影响,土壤有机碳含量水稻玉米大豆,水稻土壤有机碳含量最高达13.1%;不同作物对土壤有机碳含量影响不同;土壤有机碳密度与土壤有机碳含量在0.01水平显著正相关,土壤p H与土壤有机碳含量显著相关;土壤容重与土壤有机碳含量显著负相关,土壤铵态氮与土壤有机碳含量显著正相关;而土壤硝态氮与土壤有机碳含量无相关性;水稻土有机碳含量与土壤粒度机械组成相关性显著. 相似文献
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静电放电(ESD)对半导体器件的损伤是影响电子产品可靠性的重要因素。在ESD引起的损伤中,有90%的概率会造成器件在使用现场的早期失效,因此ESD会严重影响器件的可靠性。我们用人体模型电路测量了部份CMOS电路的ESDS,对ESD失效器绊作了分析;根据被测器件的ESDS的统计分布规律,计算了CMOS器件的静电放电失效概率。 相似文献
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