Z-扫描技术对Cu(mpo)_2非线性系数的测定

描述了一种重要的利用光束的横向分布测量光学非线性的单光束Z-扫描测试技术,待测样品放置于汇聚高斯光束的光轴(Z轴)上,逐渐向焦点处移动,在远处放置带有小孔的屏,可测得样品的透过率并通过理论分析得出它的非线性系数。     

Z-扫描技术测量(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜非线性折射率

描述了一种重要的测量多种物质的光学非线性折射率的单光束Z-扫描测试技术,被测样品放置于汇聚高斯光束的光轴(Z轴)上,样品在焦点附近沿Z轴移动,在远场处放置带有小孔的屏,通过测量样品的透过率与样品位置的关系,即可得到材料的非线性折射率.利用此技术,测量了(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜样品的非线性折射率.     

医学美容机用滤光片的优化设计与制备（英文）

以F-P型带通滤光片标准具为基础,根据膜系设计理论,通过软件优化设计,获得窄带滤光片的膜系。采用射频离子束溅射系统镀制薄膜,用OMS光控方式监控膜厚,并用UV3150分光光度计分析记录样品的光谱数据,测试结果表明:制备的窄带滤光片在510~550nm波长范围内平均透过率大于93%、截止带平均透过率小于0.5%,满足使用要求。     

光谱图像的标准具效应

在进行光谱数据测量时,在原本平坦的光谱中常会出现类似正弦的周期振荡,称为标准具效应(Etaloning effects).标准具效应严重影响了系统的测量精度和数据后续处理的难度.从光学系统表面光学膜层方向来分析这种类似正弦振荡的现象,并针对与多膜层相似结构的法布里珀罗结构,分析找到这种标准具效应的主要原因是膜层结构影响,同时提出了通过改变光学结构表面膜层来改善和消除这种影响测量结果的标准具效应.最后在软件和硬件方面都提出了相应的改善方法.     

宽谱双向反射分布函数的测量

介绍了用于测量光散射数据的宽谱全向反射计,并提出一种宽谱双向反射分布函数(BRDF)的测量方法.该仪器使用一个宽谱白光光源、一个包含衍射光栅及二极管线阵的宽谱探测器,通过相对测量的方法获得了400~700 nm的BRDF数据.完成的宽谱全向反射计能够同时实现测量角度范围覆盖入射半球和发射半球的大部分,可对可见光谱段的高密度光谱取样和高效率的测量操作.对两个试样进行了BRDF测量,并给出数据,实验结果证明了系统的可用性.     

光学外差法检测超光滑表面粗糙度

随着加工技术的发展,超光滑表面粗糙度的测量变得越来越重要．讨论了一种利用光学外差法检测超光滑表面粗糙度测量系统,采用Ｚｅｅｍａｎ效应激光管得到差频光束,提出了新的优化测量光路．该光路仅使用一个半波片改变一路光束的偏振态,不仅克服了以前广泛使用的类似测量系统中光路具有可逆性的缺陷,保证了系统的稳定性,且同时使接收端光束的偏振态方向一致,使干涉信号可见度最大,提高了系统的信噪比和测量精度．采用两光束同心聚焦扫描方法可实现表面粗糙度的绝对测量．光路结构简单,实用性强．通过样品测量研究了本系统的测量稳定性和测量精度．结果表明,系统对表面粗糙度测量精度均方根值小于１ｎｍ．     

薄膜厚度对Cu膜光电性能的影响

在室温条件下,用直流磁控溅射Cu靶制备出了不同厚度的Cu膜,测量了Cu膜的光学透过率和面电阻,分析了光电性质薄膜厚度的变化情况．实验结果表明,随着Cu膜厚度的增加,其光学透过率逐渐减小,透过率在波长为580nm处出现峰值．Cu膜的面电阻随薄膜厚度的增加先急剧减小,然后减小变得缓慢,最后趋于定值．理论模拟了Cu膜的光学透过率随薄膜厚度的变化和光学透过率随入射光波长的变化,理论模拟结果与实验结果吻合．     

多光束超分辨显微成像系统的设计与光束重合度优化

为了提升超分辨显微成像系统的分辨能力,自主设计并搭建了一套多光束超分辨显微成像系统。该成像系统包括有3束激光束,分别为405 nm实心激发光束、488 nm实心激发光束以及488 nm空心损耗光束。通过Labview程序控制纳米位移台与单光子测器间的数据采集,采用80 nm金纳米颗粒探针扫描方式对该成像系统进行纳米尺度的光束调制,完成了多光束显微成像系统的光学调节,主要包括有多光束的光斑整形、多光束间的光束空间重合度优化以及对应光斑强度分布的仿真模拟。通过已知绿色荧光蛋白样品的测试结果,说明了该方法对于系统中光束空间重合度的提升作用与效果。     

椭偏法研究ZrO2薄膜的宽光谱特性

为了获得ZrO2薄膜的光学常数,采用了德国SENTECH生产的SE850宽光谱反射式光谱型椭偏仪,测量和分析了用光控自动真空镀膜机沉积在K9玻璃基底上的两个单层ZrO2薄膜样品,得到了ZrO2薄膜在380nm"2300nm宽光谱上的光学常数曲线和薄膜厚度.结果表明:样品1采用Cauchy模型和Tauc-Lorentz模型得到的厚度和光学常数结果一致;对样品2把单层ZrO2薄膜分成三层得到的均方差(MSE)比没有分层的均方差少0.381,分层得到的ZrO2薄膜的厚度的测量值与TFCalc软件的计算值非常接近,同时得到薄膜的折射率曲线.测量结果对ZrO2薄膜的薄膜设计和多层膜的制备有一定参考价值.     

基于普通编码器的高精度位置检测方法

根据普通增量式光电编码器测量转角位置的原理，分析了量化误差的形成原因和编码器脉宽制造误差对测量精度的影响，提出了新的信号处理算法——脉冲细分法，利用该方法减小了量化误差．同时标定出编码器的脉宽系数井以它作为脉宽制造误差的补偿参数，消除对位置测量造成的影响，最终提高了系统的测量精度．     

关于Шеврин的一个定理的记注

给出了Шеврин的关于可换半群的一个定理的新证明，从而把该结果推广到比可换半群更广泛的一类半群上     

一种用于频谱监测的宽带宽波束印刷偶极子天线

提出了一种具有宽带宽波束特性的偶极子天线。该天线由主偶极子、寄生偶极子、馈电巴伦和金属反射板组成。寄生偶极子不仅极大地拓展了天线的阻抗带宽,同时还起到引向器的作用,使得全频段内天线的辐射方向图都保持得很稳定。该天线可以实现在3~8.5 GHz的工作频段内VSWR≤2.7,增益大于等于6.3 d Bi,H面的半功率波束宽度(HPBW)大于92°。该天线非常适合微波段频谱监测系统的应用。     

III族氮化物半导体异质结构中载流子的量子输运和自旋性质

III族氮化物半导体具有宽的直接带隙,很强的极化电场,优异的物理特性,是发展高频、高温、高功率电子器件和光电子器件的优选材料．同时,III族氮化物半导体有很长的电子自旋弛豫时间以及很高的居里温度,也成为近年来半导体自旋电子学研究的重要材料体系之一．本文介绍了用量子输运和自旋光电流方法对Gain基异质结构中载流子的量子输运和自旋性质的研究进展．对III族氮化物半导体中的能带结构,子带占据和散射,自旋分裂及自旋轨道耦合机制等进行了讨论．     

The Study of the World Wide Web for Academic Purposes

This assignment mainly examines some of the implications of the Web for the English for Academic Purposes context.It explores how we provide the skills to navigate the world of information and also how we might provide with strategies to exploit those resources critically and effectively in an academic environment.     

HomePNA技术及实际中的应用

最近发展起来的HomePNA技术 ,它可以利用现有用户电话线路为用户提供宽带上网服务 ,本文就HomePNA技术优、缺点作简要的介绍     

指纹图像细化算法的研究

对指纹图像的细化算法进行了较深入的研究，分析了两种常用的细化算法——快速细化算法和改进的OPTA算法各自的优缺点．针对这两种算法的不足，分析其产生的原因，并且在第二种算法的基础上，重新构建了细化模板，提出了一种新的细化算法．经过实验证明。该算法能够很好的满足细化的要求，细化完全彻底，细化以后的指纹骨架在纹线中心线，并保持了纹线原有的拓扑结构和细节特征，而且光滑无毛刺，运算速度也很快．     

黑硅材料表面反射率计算

黑硅材料因具有宽光谱吸收特性,被认为在遥感、光通信、微电子及太阳电池领域有重要的潜在应用价值。为了解该特性的形成机理,首先建立了黑硅材料微结构的几何模型,然后结合辐射传热理论计算了该材料表面的反射率。结果表明：黑硅材料的吸收率与几何模型的纵横比呈正相关性。     

广义容错直径和广义宽直径

容错直径和宽直径足度量网络可靠性和有效性的重要参数．本文推广了容错直径和宽直径的概念,并相应地推广了两个著名结果．     

小型超宽带宽缝天线及其带阻功能设计

提出一种新型的小型超宽带（UWB）宽缝天线,并对其进行带阻功能设计.该天线采用椭圆结构的调谐支节,并由共面波导进行馈电.为获得超宽带工作特性,将其辐射缝隙设计为对称多边形.对该天线的性能进行仿真和实验研究,实测结果表明,该天线的-10 dB反射损耗频率范围为3.2~10.1 GHz.另外,通过在椭圆支节上开W形槽,使天线实现对无线局域网（5.150～5.825 GHz）频段的带阻功能.     

开展ADSL业务中出现的问题及解决方案

介绍了ADSL业务中的制约因素，如出线率、传输速率、网络诊断手段、网络管理、线路资源的管理和维护等，并提出了相应的参考解决方案。