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Z-扫描技术测量(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜非线性折射率 总被引：1，自引：0，他引：1
描述了一种重要的测量多种物质的光学非线性折射率的单光束Z-扫描测试技术,被测样品放置于汇聚高斯光束的光轴(Z轴)上,样品在焦点附近沿Z轴移动,在远场处放置带有小孔的屏,通过测量样品的透过率与样品位置的关系,即可得到材料的非线性折射率.利用此技术,测量了(Na0.5Bi0.5)TiO3薄膜样品的非线性折射率. 相似文献
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提出将牛顿法中求导数进行替换,得到牛顿改进法,以及采用不等式法求解方程的两种方法,并采用TurboBasic实现其功能,让实际问题的方程求解变的简单易行. 相似文献
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