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相似文献
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1.
利用Sol-gel法在p-Si(111)衬底上制备了LaNiO3底电极, 再利用Sol-gel法在LaNiO3底电极上制备出Bi4Zr0.5Ti2.5O12(BZT)铁电薄膜, 对其微观结构和电学性能进行了研究. 利用X射线衍射仪、原子力显微镜和扫描电镜观测其微观结构, 发现制备的BZT薄膜具有单一的钙钛矿晶格结构, 并且薄膜表面晶粒尺寸均匀, 结晶情况良好. 对Pt/BZT/LaNiO3电容结构进行了铁电性能研究, 在测试电压为25 V时, 2Pr和2Vc分别达到28.2 μC/cm2和14.7 V; 经过1×1010次极化反转后, 剩余极化值下降了大约13%; 室温下, 在测试频率1 kHz时, 薄膜的介电常数为204, 介电损耗为0.029; 漏电流测试显示制备的BZT薄膜具有良好的绝缘性能; C-V曲线为顺时针方向回滞, 存储窗口大约为3.0 V, C-V特性测试显示这种Pt/BZT/LaNiO3结构有望实现极化型存储.  相似文献   

2.
采用Sol-gel法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备了Bi3.25La0.75Ti3O12 (BLT)薄膜. 制备的BLT薄膜具有单一的钙钛矿晶格结构, 而且表面平整致密. 对700℃退火处理的BLT薄膜进行了铁电性能、疲劳特性和漏电流测试: 在测试电压为10 V时, 剩余极化值2Pr大约是18.6 μC/cm2, 矫顽电压2Vc大约为4.1 V; 经过1×1010次极化反转后, 剩余极化值下降了大约10%; 漏电流测试显示制备的BLT薄膜具有良好的绝缘性能. 室温下, 在测试频率1 kHz时, 薄膜的介电常数为176, 介电损耗为0.046.  相似文献   

3.
采用Sol-gel法在Pt/Ti/SiO2/Si衬底上制备Bi3.4Ce0.6Ti3O12薄膜. 利用X射线衍射仪和原子力显微镜对其微观结构进行了观察, 发现制备的薄膜具有单一的钙钛矿晶格结构, 而且表面平整致密. 对Bi3.4Ce0.6Ti3O12薄膜的介电、铁电、疲劳和漏电流等性能进行了研究, 结果表明: 室温下, 在测试频率1 kHz时, 其介电常数为172, 介电损耗为0.031; 在测试电压为600 kV·cm-1, 其剩余极化值2Pr达到了67.1 μC·cm-2, 具有较大的剩余极化值, 矫顽场强2Ec也达到了299.7 kV·cm-1; 经过4.46×109次极化反转后, 没有发生疲劳现象, 表现出良好的抗疲劳特性; 漏电流测试显示制备的Bi3.4Ce0.6Ti3O12薄膜具有良好的绝缘性能.  相似文献   

4.
采用电沉积硫化亚铁膜之后再硫化的方法制备了FeS2薄膜材料. 即先用含铁和硫元素的水溶液在导电玻璃上电化学沉积FeS薄膜, 然后将薄膜在硫气氛中退火制得FeS2样品. 计算了电沉积FeS薄膜的实验参数, 研究了硫化过程中温度对FeS2结构的影响及晶粒的生长动力学过程, 计算了晶粒生长的表观活化能、生长速率常数及时间指数, 并对样品的电学性能进行了分析.  相似文献   

5.
Cl2/Ar/BCl3感应耦合等离子体GaN/Al0.28Ga0.72N的非选择性刻蚀   总被引:3,自引:0,他引:3  
利用Cl2/Ar/BCl3感应耦合等离子体(ICP)刻蚀技术对GaN与Al0.28Ga0.72N材料之间的非选择性刻蚀和刻蚀以后GaN/Al0.28Ga0.72N异质结的表面物理特性进行了研究. 实验表明, 优化等离子体中BCl3的含量(20%~60%), 提高ICP功率和直流偏压, 降低反应室压强有利于获得非选择性刻蚀. 而GaN/Al0.28Ga0.72N异质结刻蚀后的表面形貌与等离子体中的化学组分、反应室压强有密切的关系. 在Cl2/Ar(4︰1)中加入20% BCl3可以在较高的刻蚀速率条件下获得GaN和Al0.28Ga0.72N之间的非选择性刻蚀, 并将GaN/Al0.28Ga0.72N异质结刻蚀后的表面均方根粗糙度由10.622 nm降低至0.495 nm, 优于未刻蚀的GaN/Al0.28Ga0.72N异质结的表面. AES分析表明, 在刻蚀过程中从AlGaN的表面有效除去氧对获得非选择性刻蚀和光滑的刻蚀表面是至关重要的.  相似文献   

6.
溶剂热法合成Sn(Pb)Te-Bi2Te3系热电材料及其性能研究   总被引:7,自引:0,他引:7  
通过溶剂热-冷等静压成型-常压烧结工艺制备了准二元Sn(Pb)Te-Bi2Te3块体热电材料. 研究了前驱粉体的合成方法、生成机理及块体材料的显微结构和热电性能.  相似文献   

7.
采用磁控溅射方法制备了Ta/NiFe/非磁金属隔离层/FeMn多层膜, 研究了交换耦合场Hex相对于非磁金属隔离层厚度的变化关系. 实验结果表明: 随非磁金属隔离层厚度的增加, 以Bi和Ag为隔离层的Hex薄膜急剧下降, 以Cu为隔离层的薄膜的Hex下降较缓慢. 对Cu而言, 它的晶体结构与NiFe层晶体结构相同且晶格常数相近, Cu层以及FeMn层都可以相继外延生长, FeMn层的(111)织构不会受到破坏, 因此, Hex随Cu沉积厚度增加缓慢下降. 对Ag而言, 虽然它的晶体结构与NiFe层晶体结构相同, 但晶格常数相差较大, Ag层以及FeMn层都不可能外延生长, FeMn层的织构将会受到破坏, Hex随Ag沉积厚度增加迅速下降. 对Bi而言, 不仅它的晶体结构与NiFe层的不同, 而且晶格常数相差也较大, 同样, Bi层以及FeMn层也不可能外延生长, FeMn层的织构也会受到破坏, 因此, Hex也随Bi沉积厚度增加迅速下降. 但是, X射线光电子能谱研究表明: 极少量的表面活化原子Bi沉积在NiFe/FeMn界面时, 会上浮到FeMn层表面, 因而Hex下降很少.  相似文献   

8.
MH-Ni电池中正极材料β-Ni(OH)2微结构的对比   总被引:1,自引:0,他引:1  
微结构主要指微应变、微晶和堆垛层错, 它们都会引起X射线衍射线的宽化现象. 在总结前人工作的基础上, 提出并建立了分离微晶-堆垛层错二重、微晶-微应变-层错三重宽化效应的最小二乘方方法和相关的计算程序, 于是可分别计算出微应变(微应力)、微晶大小和堆垛层错几率. 用这种方法对不同来源的β-Ni(OH)2原材料、普通MH-Ni电池活化前后和循环寿命试验前后的β-Ni(OH)2、正极中加有Ca化合物的电池在循环寿命试验后β-Ni(OH)2的微结构进行了对比分析和研究. 实验结果表明, 活化和循环充放电的影响是巨大的, 使微晶形状和尺度、微应变状态和堆垛层错几率都发生重大变化, 而且这些微结构参数与电池的电化学性能之间有一定的对应关系.  相似文献   

9.
不确定离散系统的鲁棒l2-lH滤波新方法   总被引:8,自引:1,他引:8  
要 基于一个新的鲁棒稳定条件, 提出了依赖于参数的凸多面体不确定离散时间系统的鲁棒l2-lH性能新判据. 利用该判据, 采用线性矩阵不等式技术推导了此类系统的鲁棒滤波新方法. 该方法通过求解一个凸优化问题设计稳定的全阶滤波器, 使相对于所有能量有界的外界扰动信号, 滤波误差系统的l2-lH性能指标小于一定值. 与已有的基于二次稳定的滤波方法相比, 所提出的算法具有较低的保守性.  相似文献   

10.
基于MgH2-5at%V机械合金化检测到VH0.81/MgH2相界的实验结果, 采用第一原理赝势平面波方法, 研究了MgH2-V体系H原子的扩散与吸附性能. 结果显示: V合金化MgH2形成VH/MgH2相界, 靠近VH相区域的H原子形成的空位比未合金化时稳定, 而靠近MgH2相区域的H原子形成的空位则不及未合金化时稳定; V合金化后, MgH2-V体系中H原子在扩散过程中最大迁移屏障能较未合金化时减少, 即MgH2-V体系较MgH2相而言, H原子在其中更容易扩散; 对VH相而言, 容易形成V空位; 与H替代VH相中V原子相比, H原子更易以间隙位存在; 对于H原子通过VH/MgH2相界的迁移, 以H原子占据VH相中的V空位时, 最为有利, 其次是H原子占据间隙位, 再次是H原子替代V原子位; 对VH不同表面吸附H而言, 物理吸附比化学吸附更容易发生, 与靠近MgH2相区域表面吸附H比较, 靠近VH相区域表面H更容易被吸附.  相似文献   

11.
提出了一种把脉冲电源的输出两极均作为沉积电极、被处理试样作为一种感应电极、利用产生的串联脉冲放电沉积金属涂层的新技术. 通过“针-板-针”电极系统的放电电压-放电间隙测量实验证实了上述串联脉冲放电的物理过程. 采用振动式串联电脉冲沉积设备在Ni20Cr合金基体上成功地制备出了Ni20Cr微晶涂层和Ni20Cr弥散Y2O3微晶涂层. 950℃空气中的高温氧化实验结果表明, Ni20Cr合金微晶涂层极大地提高了基体合金的抗高温氧化性能, 同时还证实在微晶涂层中施加细小弥散Y2O3颗粒有助于进一步降低涂层的氧化速率及提高氧化膜的抗剥落性能.  相似文献   

12.
用射频/直流磁控溅射制备了 Ta/NiOx/Ni81Fe19/Ta磁性薄膜, 并利用X射线光电子能谱仪(XPS)和振动样品磁强计(VSM)研究了NiOx不同化学状态对Ni81Fe19交换耦合场Hex及该磁性薄膜的矫顽力Hc的影响以及Ni81Fe19界面反应. 结果表明:反应溅射中的Ar/O2比对NiOx中镍的化学状态有很大的影响, 当溅射气压为0.57 Pa, Ar/O2为7:1时, 制备的NiOx中的x@1, 镍为+2价, 相应的Hex最大. Ar/O2比偏离7:1时, NiOx层中出现单质镍和+3价的镍, 相应的Hex也下降, 单质镍的出现还会增大该磁性薄膜的矫顽力Hc. XPS的分析还表明, 在NiO/NiFe界面发生了反应:NiO+Fe=Ni+FeO和3NiO+2Fe=3 Ni+Fe2O3. 给出了界面上存在磁性杂质的证据, 这些磁性杂质会影响NiO/NiFe的HexHc.  相似文献   

13.
采用温度梯度法生长出了透明的γ-LiAlO2单晶, 将(200)面的铝酸锂晶片在空气中1100℃退火70 h后表面生成了一层乳白色的缺Li相(LiAl5O8); 然而同样条件下富Li气氛退火处理后, 晶片表面变得更透明, 而且保持γ-LiAlO2相. 相应的晶片摇摆曲线的半高宽降至30 arcsec, 而空气中退火后却升高到了78 arcsec. 对比3种晶片的吸收光谱, 可以判定: 196 nm的吸收峰可能来源于Li空位, 736 nm的吸收峰可能来源于O空位.  相似文献   

14.
以先驱体聚碳硅烷(PCS)和低分子添加物钛酸四正丁酯(Ti(OC4H9))为混合体系, 采用原位转化法在碳纤维表面上制备了表面层为纳米TiO2的TiO2/SiC纳米功能陶瓷膜. 研究了Ti(OC4H9)用量、熟化时间等因素对TiO2表面层的致密性和粒子尺寸的影响. XRD分析表明: 纳米复合陶瓷膜的组成为红金石相TiO2和SiC. X射线能谱仪测试的结果表明: 表面层的成分为低分子Ti(OC4H9)的成分, 即经过100 h的熟化, Ti(OC4H9)4从PCS基体中逐渐析出到其表面. SEM照片显示: 低分子Ti(OC4H9)用量为45%质量分数, 熟化时间100 h时形成了致密的平均粒径100 nm TiO2表面层. 复合纳米陶瓷膜能有效地改善碳纤维的抗氧化性.  相似文献   

15.
利用浮区法生长得到β-Ga2O3:Cr单晶体,在室温下,测试了β-Ga2O3: Cr单晶体的吸收光谱和发射光谱。通过吸收光谱计算了晶体场分裂系数Dq和Racah系数,得到10Dq/B=23.14,表明Cr3+在β-Ga2O3晶体中处于较弱的晶体场。β-Ga2O3: Cr 单晶体经高温退火后Cr3+的发射明显加强,而绿光的发射减弱。采用420 nm波长激发,在691nm可以得到强而宽的特征发射,此发射对应于Cr3+4T24A2跃迁。  相似文献   

16.
本文研究了熔体快淬工艺及添加元素Ti对Sm-Fe合金相的形成及结构的影响,成功制备了Sm3(Fe,Ti)29Nx/α-Fe双相纳米耦合永磁材料。研究发现,快淬薄带由Sm3(Fe,Ti)29和α-Fe两相组成,晶化前在纳米晶周围存在部分非晶相,晶化后的晶粒间晶界平直光滑、且晶粒间结合紧密没有界面相,为晶粒间直接接触耦合。对甩带后的样品采用750℃保温10min的晶化退火得到的颗粒比较细小且均匀。氮化磁粉磁滞回线的第二象限没有出现明显的台阶,表现为单相永磁材料的特点,说明硬磁相Sm3(Fe,Ti)29Nx与软磁相a-Fe晶粒之间的交换耦合作用已形成。  相似文献   

17.
用磁控溅射法分两种顺序制备了系列厚度的[CoPt/Ag]n纳米多层膜, 600℃真空退火后, 进行了磁性测量和微结构分析. 研究表明, 退火后两种顺序制备的[CoPt/Ag]n多层膜有着不同的微结构和磁性能, 且膜厚越小差别越显著. 先沉积Ag层的[Ag/CoPt]n多层膜, 退火后更易于形成高有序化度的L10-CoPt相, 并具有较高的矫顽力. Ag作底层影响了CoPt无序立方向有序四方的转化是引起这种差别的可能原因. 剩磁曲线分析表明, Ag的掺杂有利于降低CoPt晶粒间的磁交换耦合作用.  相似文献   

18.
采用化学水浴法沉积CdTe太阳电池的n型窗口层CdS多晶薄膜, 用近空间升华法制备吸收层CdTe薄膜. 为了获得优质的背接触, 对退火后的CdTe薄膜用湿化学法腐蚀一富Te层, 然后沉积背接触层. 结果表明:具有ZnTe/ZnTe: Cu 复合层的太阳电池性能优于其他背接触结构的电池. 最后, 采用激光刻蚀和机械刻蚀相结合, 制备了glass/SnO2:F/CdS/CdTe/ZnTe/ZnTe:Cu/Ni太阳电池小组件, 其中一个CdTe太阳电池小组件的效率达到了7.03% (开路电压Voc = 718.1 mV, 短路电流Isc = 98.49 mA, 填充因子53.68%, 面积54 cm2) (由中国科学院太阳光伏发电系统和风力发电系统质量检测中心测量).  相似文献   

19.
用气相传输平衡技术(VTE)在(0001)蓝宝石衬底上制备了单相的γ-LiAlO2薄层. X射线衍射表明, 在适当的温度(1050~1100℃)条件下, 此γ-LiAlO2薄层为高度[100]取向, 并通过扫描电子显微镜和透射光谱, 分析了影响薄膜质量的因素. 这一实验结果意味着有望通过VTE技术制备用于GaN基器件外延生长的γ-LiAlO2(100)//Al2O3(0001)复合衬底.  相似文献   

20.
形式系统L*的扩张L*n及其完备性   总被引:2,自引:0,他引:2  
将Pavelka语义与语构有机结合的方法运用于命题演算形式系统L*的研究, 在公式集中引入部分常值, 从语义和语构两个途径将公式程度化, 同时将推理过程也程度化, 提出了系统<L*的一个扩张L*n, 证明了L*n的完备性.  相似文献   

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