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相似文献
 共查询到13条相似文献,搜索用时 250 毫秒
1.
用国产DX-3A型扫描电子显微镜分析红外探测器材料,可成功地检测线度10μm以下的碲镉汞中的富磅夹杂相和碲锡铅中的金属夹杂相.精密测量了Hg1-xCdxTe和Pb1-xSnxTe的微区组成,可分辨出△x/x>2%的横向组成不均匀性.也可相当精确地测量PbSnTe-PbTe异质外延层的厚度.  相似文献   

2.
测量了Te溶液生长半磁半导体(SMSC) Cd1-xMnxTe的导电类型、电阻率、霍尔迁移率和光致发光(PL).测定结果表明,Te溶液生长Cd1-xMnxTe晶体质量和稳定性均优于布里奇曼长晶,根据正四面体配位晶场中Mn2+3d (4T1)能级出现在Cd1-xMnxTe禁带中的观点,分析了在0.85~1.5μm范围内红外透射光谱上存在吸收边的原因。  相似文献   

3.
碲锡铅(Pb1-xSnxTe)是一种禁带宽度可调的三元化合物半导体,用它不仅可制备814μm的高灵敏度的红外探测器,而且可以制备长波红外可调谐激光器.  相似文献   

4.
采用汞空位扩散模式,解释了高温(600℃)短时间(10'~15')热处理后使Hg0.8Cd0.2Te变成P型的现象,把热处理后样品逐层减薄,同时用范德堡法[1]在77K (液氮温度)下进行霍尔测量,得出在不同汞压、不同时间下样品中汞空位的分布.由此验证了汞空位扩散模式,并计算得600℃下Hg0.8Cd0.2Te中汞空位扩散系数DL为2×105微米2/小时左右;汞空位最终浓度Lf与汞压成反比,其比例常数(KF)/Ki为5×1019·厘米-3大气压;汞空位激活能Q为0.6电子伏特左右.  相似文献   

5.
用同步辐射和CuKα X射线衍射方法对In1-xAlxAs/GaAs一维超点阵结构进行对比式研究.从低角衍射数据求得超点阵的周期Λ,由GaAs(002)附近衍射数据求得各结构参数.对两种光源的衍射结果进行了分析和比较.解释了该超点阵的Raman散射谱,发现在Ga1-xAlxAs混晶谱中不存在的275cm-1峰.  相似文献   

6.
本文采用液相外延方法在InSb衬底上生长InSb1-xBix外延层,初步得出了外延生长条件包括温度,生长速率,熔池组分及衬底取向等与外延层x值的关系.此外,为了使x值达到所希望的适当范围,进行了InSb1-xBix电外延的初步试验.  相似文献   

7.
用单辊急冷法制备了非晶态(Fe1-xNbx)84.5B15.5(x=0,0.02,0.04,0.06,0.08,0.1)合金,测量了饱和磁化强度与温度的关系,得到居里温度To随Nb含量x的增加而线性下降,其递减率dTo/dx=17.6 K/at%Nb.  相似文献   

8.
K5Bi1-xErx(MoO4)4固溶体的晶体数据   总被引:1,自引:0,他引:1  
用衍射仪和德拜-谢乐相机,Cu靶Ka辐射,收集了K5Bi1-xErx(MoO4)4(x=0,0.1,0.3,0.5,0.7,0.9,1.0)的X射线粉末衍射图谱.K5Bi1-xErx(MoO4)4(x=0~1)在x的变化范围内是固溶体,它们属于三方晶系,空间群为五R3m,Z=1.5,K5Bi0.9Er0.1(MoO4)4晶胞参数为:a=0.6020nm,c=2.0740nm.  相似文献   

9.
测量了Na|β-Al2O3|NaxHg1-x电池的电动势(E),并据此计算了低钠汞齐中钠的活度系数(γNa).仔细的数据分析表明,各电池电动势的温度系数在318.15K、333.15K、353.15K和370.85K附近均有微小转折,各温度区间温度系数的差异随x值变小而减小.最后,得出电池电动势、钠的活度系数和钠/以无限稀释汞齐为参考态的假想态钠汞组分电池的标准电动势(E0)的实验参数方程式.  相似文献   

10.
本文对多层超晶格结构的能级分裂作了理论分析,导出了能级分裂的简明表式.结果表明:对应于单量子阱的每一能级,构成多重阱时,将发生分裂.能级的分裂值与该能级值有关,同时也是构成超晶格的材料参数和几何结构的函数.把本文的理论结果应用于GaAs-AlxGa1-xAs超晶格结构的能级分裂计算,所得的数值与实验[1]比较,基本符合.  相似文献   

11.
本文导出光截止法中透光因子的解析式,它们分别适用于短波和长波.这些表式被用于实验测量并证明对改善精度和测量速度是很有用的.根据这些表式,获得精度为10-5的3000个数值的表,进而得到碲镉汞组分x和透光因子F的一个有用的精确到2×10-4的解析式.  相似文献   

12.
用离子注入技术对磷砷化镓进行了掺氮,给出了组分在0.175 ≤ x ≤ <0.8间氮能级随组分变化的方程式.  相似文献   

13.
研究了(ZnGeP2)1-x(GaP)2x体系的相结构,测量了因Ga取代部分Zn和Ge所引起的该体系的电学、光学、机械性能等的变化,并对这些变化的可能原因作了初步的探讨.  相似文献   

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