介绍“近代物理学中的半导体”

“近代物理学中的半导体”是一本科学专著,它的读者对象包括物理学工作者、化学工作者以及有物理学素养的工程师。在介绍这本书的内容以前,应当先简略地介绍一下本书的作者——约飞院士。     

参加民主德国“固体物理及發光材料报告会”紀要

民主德国物理学会在去年10月21日到24日举办了一次“固体物理及發光材料报告会”,地点是在民主德国的西南角的爱而福。据作者所知,这种专業的报告会在民主德国是經常有的。在固体物理方面,这次报告会已經是第三次。不过邀請我国科学院派人参加,还是第一次。     

在600℃封闭系统中Hg0.8Cd0.2Te的热处理

采用汞空位扩散模式,解释了高温(600℃)短时间(10'~15')热处理后使Hg_0.8Cd_0.2Te变成P型的现象,把热处理后样品逐层减薄,同时用范德堡法^[1]在77K (液氮温度)下进行霍尔测量,得出在不同汞压、不同时间下样品中汞空位的分布.由此验证了汞空位扩散模式,并计算得600℃下Hg_0.8Cd_0.2Te中汞空位扩散系数D_L为2×10⁵微米²/小时左右;汞空位最终浓度L_f与汞压成反比,其比例常数(K_F)/K_i为5×10¹⁹·厘米^-3大气压;汞空位激活能Q为0.6电子伏特左右.     

表面复合速度对于锗的光电导光谱分布的影响

关于半导体的光电导光谱分布的问题,曾经有过不少的讨论。一般认为,波长愈短,吸收系数愈大,光生载流子的产生就愈接近表面,因而表面状态对光电导的影响就愈大。光电导的光潜分布就取决于这一因素。然而,对于表面状态如何影响光电导光措分布的问题,却没有一致的意见。而且已有的讨论都限于定性的叙述,由于缺少吸收光谱的数据,不可能得出任何肯定的结果来。     

掺氮类金刚石薄膜的微观结构和红外光学性能研究

采用俄歇电子能谱、原子力显微镜、拉曼散射分析、傅里叶红外光谱和红外椭圆偏振光谱等设备,对射频等离子增强化学气相沉积法制备的掺氮类金刚石薄膜的微观结构和红外光学性能进行了研究.结果表明,薄膜中氮含量随工艺中氮气/甲烷流量比的增加而增加并趋于饱和.光谱中CH键吸收峰(2859~3100cm^-1)逐渐消失,而且CNH键(1600cm^-1)、C≡N键(2200cm^-1)和NH键(3250cm^-1)对应的红外吸收峰强度随氮含量的增加而增加.拉曼散射中G峰向小波数方向位移和峰值展宽的现象说明薄膜中形成了非晶的氮化碳结构,与原子力显微镜显示的薄膜中富氮的非晶纳米颗粒相对应.偏振光谱分析认为,富氮纳米颗粒的存在导致了薄膜在红外波段折射率由1.8降低到1.6.