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含纳米硅氧化硅薄膜的光致发光特性
引用本文:杨琳琳,郭亨群.含纳米硅氧化硅薄膜的光致发光特性[J].华侨大学学报(自然科学版),2006,27(3):256-258.
作者姓名:杨琳琳  郭亨群
作者单位:华侨大学信息科学与工程学院,福建,泉州,362021
基金项目:国家自然科学基金资助项目(60336010)
摘    要:利用射频磁控溅射复合靶技术,通过调节复合靶的百分比制得富硅的氧化硅薄膜,并在不同的温度下退火,制得含纳米硅的氧化硅薄膜.通过Raman谱的测量,计算出800℃退火的薄膜中纳米硅晶粒的平均尺寸为5.6 nm,用X射线衍射测量同样的样品得出其粒径为6.0 nm.在室温下测量光致发光(PL)谱,探测样品的峰位为360 nm,并结合光致发光激发谱(PLE),研究相应的激发与发光中心.

关 键 词:磁控溅射  纳米硅  光致发光  氧化硅薄膜
文章编号:1000-5013(2006)03-0256-03
收稿时间:2006-01-17
修稿时间:2006-01-17

Study on the Property of the Photoluminescence from Silicon Oxide Films Embedded Nanometer Silicon Particles
Yang Linlin,Guo Hengqun.Study on the Property of the Photoluminescence from Silicon Oxide Films Embedded Nanometer Silicon Particles[J].Journal of Huaqiao University(Natural Science),2006,27(3):256-258.
Authors:Yang Linlin  Guo Hengqun
Institution:College of Information Science and Engineering, Huaqiao University, 362021, Quanzhou, China
Abstract:
Keywords:magnetron sputtering  nanomeuer silicon  photoluminescence  silicon oxide films
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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