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碳化硅薄膜的光学特性研究
引用本文:于威,吕雪芹,宋维才,路万兵,傅广生.碳化硅薄膜的光学特性研究[J].河北大学学报(自然科学版),2007,27(1):24-27.
作者姓名:于威  吕雪芹  宋维才  路万兵  傅广生
作者单位:1. 河北大学,物理科学与技术学院,河北,保定,071002
2. 唐山师范学院,物理系,河北,唐山,063000
基金项目:河北省自然科学基金重点项目(503129)
摘    要:采用螺旋波等离子体增强化学气相沉积(HW-PECVD)技术制备了纳米晶碳化硅(nc-SiC)薄膜,利用傅立叶红外吸收谱(FTIR)、X射线衍射谱(XRD)、紫外-可见透射光谱(UV-Vis)和光致发光谱(PL)对薄膜的结构、光学带隙、发光特性等进行了测量和分析.结果表明,所沉积薄膜主要以Si-C键合结构存在,薄膜中包含有立方结构的3C-SiC晶粒,光学带隙2.59 eV,室温下薄膜表现出强的可见蓝色光致发光,发光峰位随氙灯激发波长的增加呈现红移现象,并将此发光归因于量子限制效应作用的结果.

关 键 词:SiC薄膜  薄膜结构  光学带隙  光致发光
文章编号:1000-1565(2007)01-0024-04
修稿时间:2006年3月10日

Optical Properties of Silicon Carbide Film
YU Wei,L Xue-qin,SONG Wei-cai,LU Wan-bing,FU Guang-sheng.Optical Properties of Silicon Carbide Film[J].Journal of Hebei University (Natural Science Edition),2007,27(1):24-27.
Authors:YU Wei  L Xue-qin  SONG Wei-cai  LU Wan-bing  FU Guang-sheng
Institution:YU Wei,L(U) Xue-qin,SONG Wei-cai,LU Wan-bing,FU Guang-sheng
Abstract:The film of nanocrystalline silicon carbide(nc-SiC) is prepared by helicon wave plasma enhanced chemical vapor deposition(HW-PECVD) technique.Fourier transform infrared spectroscopy(FTIR),X-ray diffraction(XRD),ultraviolet-visible transmission spectroscopy(UV-Vis) and photoluminescence(PL) spectra are used to analyze the film structure,optical band gap and luminescence properties.The results indicate the bonding structure of the film is mainly in the form of Si-C bonds and cubic 3C-SiC crystals are present.From the measurement of UV-Vis spectrum the optical band gap is obtained to be 2.59 eV.At room temperature a strong blue emission is observed and a PL peak redshift is detected with the increase of excitation wavelength under a Xe lamp excitation.The luminescence mechanism is discussed based on the carrier quantum confinement in nano-sized SiC grains.
Keywords:SiC film  film structure  optical band gap  photoluminescence
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