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随着信息技术的发展,设计越来越复杂,嵌入式存储器在SoC芯片面积中所占的比例越来越大,由于本身单元密度很高,嵌入式存储器容易造成硅片缺陷,降低了芯片的成品率．针对投影仪梯形校正项目嵌入的存储器模块存在的故障等问题,讨论了基于MarchC＋算法的BIST的设计与实现,并对BIST进行改进,完成对存储器故障的检测和定位,整个测试故障覆盖率接近100％、测试时间为35．546ms． 相似文献
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