射频功率放大芯片的静电测试失效研究

以射频功率放大芯片为研究对象,分别进行了基于人体静电释放模式以及机器静电释放模式的静电放电测试。实验结果表明芯片对两种放电模式的耐压分别为+1750 V和+150 V,且均优先造成射频信号收发引脚端失效。这种失效机制与射频芯片的输入输出端功率耦合电阻承受的大电流密度有关。