原子内壳层电离截面研究中薄靶厚度的卢瑟福背散射分析

作者使用^241Amα标准源与卢瑟福背散射相结合的方法，对四川大学原子核科学技术研究所的2．5MeV静电加速器进行了能量刻度，并利用卢瑟福背散射方法测量了一系列A1衬底金属薄靶的厚度，所测结果与称重法进行了比较，作者将卢瑟福背散射方法所测厚度值运用到电子碰撞引起原子内壳层电离截面的测量工作中，取得了满意的结果。     

知识经济对企业内部会计工作的一些影响

近几年来我国经济得到快速发展，而内部会计工作相对滞后，根据企业内部会计控制的问题和原因进行分析，提出了一些相关的对策。     

激光微加工技术在惯性约束聚变研究中的应用

介绍了激光微加工技术的发展及应用概况,重点阐述了利用激光微加工技术制备惯性约束聚变研究中X光成像所用针孔、针孔阵列、狭缝及靶元件的实例,分析了影响加工质量的相关因素,提出了进一步拓展该项应用技术的方向。     

球面弯晶分析器研制

在激光聚变实验中为了获取等离子体的重要信息,采用球面弯曲晶体成像谱仪来研究等离子体辐射的X射线,利用球面弯晶对X射线进行诊断而提供时间、空间、光谱分辨。该强聚焦晶体能增强信噪比,提高谱仪的空间分辨能力及立体角收集辐射能力。实验结果表明球面弯晶分析器对波长范围为0.2~0.4 nm的X射线其分辨率可达600~1 000,聚光效率在同样距离条件下比平晶分析器高一个数量级以上,适合于研究等离子体X射线光谱学。     

CO2氧化对阵列碳纳米管结构和性能的影响

采用化学气相沉积法制备了阵列碳纳米管薄膜,并通二氧化碳对其进行氧化。利用扫描电子显微镜(SEM)、拉曼光谱(Raman)和X射线衍射仪(XRD)研究了CO2氧化后对阵列碳纳米管结构和性能的影响。结果表明,在相同条件下,随着通二氧化碳时间的增加,阵列碳纳米管的管壁被刻蚀得越来越薄,相应的碳纳米管的管径越来越小;在相同条件下,随着二氧化碳对碳纳米管氧化时间的增加,氧化后铁含量也增加,导致氧化后的阵列碳纳米管的磁性增强。     

用于激光等离子体X射线诊断的谱仪

为了诊断波长为0.5～0.8 nm的激光等离子体X射线,研制了一种新型的高空间和光谱分辨率的晶体谱仪.采用2个不同分光计材料、不同形状且相互垂直分布的通道可以同时获得谱线的空间和光谱分辨率.利用成像板接收光谱信号,其有效接收面积为30 mm×80 mm.讨论晶体基本参数和给出了谱仪设计参数.在中国工程物理研究院激光聚变研究中心的20 J激光器装置进行实验,两个方向的成像板同时获取得到了Al激光等离子体X射线光谱,其中水平通道的PET平面晶体获取的空间分辨率为1.73～6.88 mm,而垂直通道的Mica球面弯晶得到的光谱分辨率达到1 000～1 500.实验结果表明该谱仪适合于激光等离子体X射线的光谱学研究.     

孔径对空心玻璃微球力学性能的影响

为实现大分子气体的充入,对空心玻璃微球(HGM)开孔使分子半径较大的Ar气从微孔进入球内,再对微孔进行封胶处理。空心玻璃微球表面的微孔将导致其力学性能(耐压强度)发生改变。运用扫描电子显微镜观察微孔周边形貌并对封胶后的HGM进行了耐压强度测试。结果表明:开孔后,空心玻璃微球孔口处完好,未出现微裂纹,随着孔径的改变,其耐压强度有所差异,当孔径为15μm时,空心玻璃微球的耐压强度降低量最小,其减少值为11.9%;利用有限元分析法对不同孔径的HGM在外压下所受应力进行模拟,模拟结果表明微球的加工孔径越小,其所受应力越小,与实验结果相吻合。     

X射线在Au等离子体中的散射截面测量

阐述了X射线在等离子体中的散射截面研究的潜在价值及对惯性约束聚变 (ICF)研究的重要意义 ,介绍了神光Ⅱ装置上的实验方案及诊断设备靶场排布。给出了该项研究的实验结果 ,并对实验结果作了初步的分析 ;给出了实验误差的主要来源 ,从获得的结果表明有望发展一种新的等离子体状态参数诊断技术。     

MCNP在惯性约束聚变核探测中的初步应用

随着惯性约束聚变的发展,对聚变产物特别是中子探测的定量分析变得非常重要。采用三维Monte Carlo输运程序MCNP(Monte Carlo N-particle),对不同铅屏蔽厚度下探测器的DT中子相对灵敏度,和中子半影成像的数值模拟进行了一定的研究。结果显示,相对灵敏度的模拟与实验结果符合得很好,而中子成像模拟能为惯性约束聚变物理实验的开展提供指导。