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1.
射频磁控溅射制备ZrN薄膜及其表征
隋瑛锐
柏昕昱
刘波
姚斌
《松辽学刊》
2008,29(1):18-20
本文利用射频磁控溅射在N2和Ar混合气氛环境下,在玻璃衬底上沉积ZrN薄膜.采用X射线衍射(XRD)、X射线散射能谱(EDX)和扫描电子显微镜(SEM)技术对薄膜微观结构、成分及形貌进行分析.结果表明,制备的ZrN薄膜是化学计量比接近于1的面心NaCl结构,从薄膜的表面形貌图可知,薄膜表面平整,缺陷很少,晶粒排列非常致密,且空位及表面缺陷很少.
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