锐钛矿纳米晶粒TiO2薄膜的制备及分析

以金属钛为靶材,采用射频磁控溅射方法制备纳米晶粒TiO2薄膜.利用扫描电镜、紫外-可见光谱仪、X射线衍射仪研究不同热处理温度下制备的纳米晶粒TiO2薄膜的结构及表面形貌.实验结果显示,用射频磁控溅射得到的纳米晶粒TiO2薄膜与衬底结合紧密,薄膜表面致密、平整,经550℃晶化的纳米晶粒TiO2薄膜为均一的锐钛矿相,具有良好的紫外光吸收率.     

溅射压强对WSe2纳米薄膜形貌及光电性能的影响

采用射频（RF）磁控溅射技术在Si（100）衬底上制备WSe₂纳米薄膜，研究在不同制备压强（2.0、2.5、3.0 Pa）下WSe₂纳米薄膜的形貌及光电性质变化.采用扫描电子显微镜（SEM）、能谱仪（EDS）、X射线衍射仪（XRD）、光致发光谱（PL）、霍尔效应等测试对薄膜样品进行基本性质表征.SEM测试结果表明：溅射压强的改变对薄膜形貌有显著影响，随着压强的增加“蠕虫”状结构更加明显.进一步研究WSe₂的生长取向，XRD测试结果表明WSe₂薄膜在（008）晶面优先生长，证明压强的不同会改变WSe₂的晶体结构，提高其结晶性和光吸收特性.此外电学性能测试表明，WSe₂纳米薄膜的载流子浓度和霍尔系数可以通过改变压强来调节.体现了磁控溅射技术制备的WSe₂具有可控性好，易于重复等优点，在构建多功能WSe₂器件领域中具有很好的应用前景.     

PAN基炭纤维微孔缺陷的表征及其对力学性能的影响

对不同热处理温度的PAN基炭纤维（PAN-CFs）进行小角X射线散射（SAXS）测试.基于材料分形理论和小角X射线散射理论,计算给出了炭纤维内微孔缺陷的大小、分布及微孔表面分形维数.探讨了纤维内微孔缺陷对其力学性能的影响.     

不同表面活性剂对电沉积半金属Bi膜的影响

采用电沉积方法在氧化铟锡玻璃（ITO）基板上制备出Bi薄膜,研究了阳离子表面活性剂十六烷基三甲基溴化铵（CTAB）、阴离子表面活性剂十二烷基磺酸钠（SDS）以及非离子表面活性剂（Brij56）对Bi3＋的循环伏安行为、Bi膜的结构以及表面形态等的影响.通过X射线衍射（XRD）和扫描电子显微镜（SEM）对Bi膜的表面结构形态进行了表征.结果表明,Brij56对Bi纳米颗粒的形态影响较小,以CTAB和SDS为添加剂可分别获得片状和树枝状结构的Bi纳米颗粒.     

生长时间对ZnO纳米棒形貌和光学性能的影响

在低温条件下，利用化学溶液沉积法（CBD）成功在Si（100）衬底上生长出近一维ZnO纳米棒阵列．采用X射线衍射（XRD），扫描电子显微镜（SEM）和光致发光谱（PL）对样品进行结构、形貌和光学性能分析．结果表明：产物为结晶良好的六角结构晶体．随着生长时间的增加，ZnO纳米棒的尺寸随之增大．PL测试表明产物有较好的光致发光性能，并且随着纳米棒尺寸的减小，紫外发射峰发生蓝移现象．     

高模量PAN基炭纤维的表面研究

采用X射线光电子能谱（XPS）对热处理温度为2400—3000℃的聚丙烯腈基炭纤维（PAN-CFS）的表面元素组成、相对含量以及表面官能团的类型进行了表征．结果表明，热处理温度在2400℃以上，炭纤维表面只存在-C-C-结构和羟基、醚键等结构．随着热处理温度的升高，PAN-CFS表面C元素的含量不断上升，-C-C-结构含量不断增加，而羟基、醚键等结构的含量不断下降，表面活性降低．     

Bi2WO6微球的制备及可见光催化性能研究

以葡萄糖为模扳剂，采用水热法在160℃下削备了Bi2WO6微球．利用X射线衍射（XRD）、扫描电镜（SEM）、紫外可见光谱仪（UV—Vis）、分别对Bi2WO6微球的结构、形貌和性能进行了表征，并特别考察了Bi2WO6微球在可见光的照射下对罗丹明B的光催化降解性能．结果表明，加入葡萄糖后，Bi2WO6的形貌从球形变为扁柿状形貌，禁带宽度减小，可见光催化性能得到大幅提高．     

Fe掺杂ZnS纳米线的制备及性能研究

利用水热法制备了Fe掺杂ZnS的纳米线．通过X射线衍射（XRD）、X射线能谱仪（EDS）、扫描电显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）分析了Fe掺杂对样品的结构和形貌的影响;利用紫外可见近红外分光光度计（uV-VIS）、共聚焦显微拉曼一荧光光谱仪（PL）和振动样品磁强计（VSM）对样品的光学特性进行表征．结果表明,样品为六角纤锌矿结构,Fe成功掺入ZnS晶格中,形成替位式掺杂．随着Fe掺杂浓度的增加,样品的吸收峰出现蓝移且发光强度逐渐减弱．掺杂后的样品在室温下呈现了铁磁性．     

Sol-Gel法制备纳米TiO2薄膜及性能研究

采用TiO2溶胶,利用溶胶-凝胶技术在玻璃表面制备了TiO2薄膜．用原子力显微镜（AFM）分析了样品的形貌,结构和粒度的分布;用自动椭圆偏振测厚仪测量了薄膜的厚度．研究了TiO2颗粒的催化机理、薄膜上粒子的性能以及薄膜的光催化性能,130nm左右的TiO2薄膜对甲基橙溶液的降解率达到28．2％．     

X射线底片焊缝缺陷的支持向量机识别方法

准确识别X射线底片焊缝缺陷类别,可改进焊接工艺、提高焊接质量。该文在分析和比较几种焊缝缺陷识别模式的基础上,提出了基于支持向量机（SVM）的X射线底片焊缝缺陷识别方法。该方法首先对X射线底片进行数字化处理和缺陷特征提取,然后针对X射线底片焊缝缺陷样本特点,建立SVM“一对一”聚类结构并对样本进行识别。实验结果表明,该模型具有识别精度高、速度快、容易实现等优点,适合对X射线底片焊缝缺陷识别。