H．264基于场景变换的空时域自适应错误隐藏算法

针对H.264错误隐藏(EC)算法在场景变换(SC)时隐藏效果急剧下降的问题,提出了一种基于SC检测的空时域自适应EC机制.首先对当前误码I/P帧分别使用直方图差分或帧内宏块比率来检测是否发生SC,若发生SC则不论I/P帧均使用新颖的基于模式估计的空域EC算法,否则使用改进的时域EC算法.实验表明,文中算法可以自适应地选择时间或空间相关性强的信息来恢复丢失MB,提高了当前帧的恢复质量,有效阻止了误码传播,使得整个序列的重建质量大大提高,而且计算复杂度较低,适合实时应用.     

基于子空间跟踪的盲空时多用户检测

针对天线阵同步CDMA系统,运用子空间方法,提出多径条件下空时盲多用户检测方法.用FSYAST子空间跟踪方法来自适应估计信号子空间,同步多径天线阵列系统的信道参数采用Kalman算法自适应估计.仿真结果表明,提出的盲空时多用户检测器性能优于其它子空间多用户检测器.     

提高空时自适应处理稳健性的一种新方法

常规空时自适应的加权存在时间滞后问题.在载机运动情况下,若空时自适应处理不能有效地形成足够宽的零陷,处理性能将严重降低.针对机载相控阵雷达杂波谱特性进行了研究,通过对空时采样数据引入杂波谱展宽的影响,提出一种自适应零陷加宽技术.由于零陷的加宽,在杂波内部运动情况下,仍能够较好抑制杂波,从而提高算法的稳健性.基于仿真数据和实测数据的仿真试验均表明,该方法可以有效加宽杂波零陷,且增加的运算量很小,对杂波内部随机运动具有很好的稳健性.     

天基雷达杂波抑制STAP算法性能仿真研究

天基雷达系统中杂波存在时空二维耦合的问题,在杂波抑制上通常采用空时自适应处理（STAP）的方法。基于天基雷达系统中杂波和干扰对STAP处理的影响,论文围绕天基雷达对STAP处理的需求,开展了对单基地天基雷达系统的STAP算法对天基雷达杂波抑制的仿真研究。     

正交波束成形空分多址系统中下行信息-干扰比分布

为了精确分析基于有限反馈的空分多址系统中矢量量化的性能,考虑码字之间的正交性,运用概率论的方法给出了信道方向信息矢量量化误差分布的数学表达式.同时得到了正交波束成形空分多址系统中下行信号 干扰比的分布.数值仿真结果表明,理论分析结果与实际情况相吻合.     

多微处理机神经网络主从控制系统在钳式吊中的应用

本文主要根据主机参数设计一个神经网络控制器,利用神经网络使从机的速度和力矩都跟随主机,从而达到主从跟随模式。然后根据设计参数仿真和运行,并成功地应用于钳式吊控制系统。     

气相色谱法测定聚碳酸亚丙酯中甲醇、环氧丙烷的残留量

采用顶空毛细管气相色谱法,测定了聚碳酸亚丙酯(PPC)中甲醇、环氧丙烷的残留量.结果显示:甲醇、环氧丙烷的线性范围分别为0.25~4.00 g.L-1(r=0.999 4),0.25~4.00 g.L-1(r=0.999 7);甲醇、环氧丙烷的平均回收率分别为95.4%,98.3%;RSD(n=5)分别为3.7%,1.8%.本方法简单、准确、灵敏度高、重现性好,适用于聚碳酸亚丙酯(PPC)中甲醇、环氧丙烷的残留量的测定.     

基于天线选择和STBC编码的MIMO-OFDM系统

MIMO-OFDM系统能够极大地提高无线通信系统的容量和频谱利用率,为了增加系统的可靠性,采用空时分组编码来获得空间分集.针对采用多天线所带来的射频链路增加,利用天线选择技术使系统不完全受射频成本的限制.该文提出了一种基于基本的MIMO-OFDM系统结构的改进天线选择方法,并将STBC应用到此改进方法的系统中.仿真结果表明,在频率选择性衰落信道中,该方法在通过天线选择提高了天线利用率的前提下,降低了系统的误码率,获得了分集增益.     

基于双选衰落信道的差分空时协作技术

协作分集技术解决了MIMO技术在移动终端受天线制约的问题.由于无线通信环境的特殊性和复杂性,对信道估计十分困难,因此引入了不需要信道估计的差分空时编码,并在时间选择性衰落信道和频率选择性衰落信道的基础上研究了时间-频率双选择性衰落信道模型,在更接近实际信道环境的基础上将差分空时编码和协作分集技术相融合.理论研究和仿真结果均表明系统性能在信道容量、误比特率等方面均得到了提高.     

主动声纳混响抑制与目标检测技术

 混响是浅海主动声纳的主要干扰,其抑制问题一直是困扰声纳信号处理的难题,尤其是当声纳载体具有一定的运动速度、导致混响具有空时耦合特性时。空时自适应处理是解决该问题的一个有效途径,它能够实现隐式的平台运动补偿从而允许获得理论最优的混响抑制性能。本文介绍了传统主动声纳的混响抑制与目标检测技术,通过分析声纳与雷达的不同之处,提出了适合于运动声纳的空时自适应处理模型;在此模型下,讨论了提高空时自适应检测稳健性的方法;最后展望了主动声纳混响抑制与目标检测技术的发展趋势。