影响装备性能的电磁环境因素GM(1,n)模型定量分析

为了对战场电磁环境影响因素进行定量分析并排序,针对小样本试验数据,提出基于GM(1,n)模型综合装备性能及其电磁环境影响因素进行建模,介绍了实现算法.为了提高GM(1,n)模型的建模精度,建立了基于背景值加权处理的GM(1,n)优化模型与算法;对某电子侦察装备的侦察概率与3个相关电磁环境影响因素的GM(1,4)建模进行了验证.结果表明,文中所提模型和算法合理有效,能定量分析电磁环境影响因素对装备侦察概率的影响主次关系.     

关于ARMAV（n,m）模型的建模

在一维长自回归模型比较参数法建模的基础上,根据相同观测数据所对应的适用ARV(p)模型与ARMAV(n,m)模型两者传递函数相等的原理,给出了ARMAV(n,m)模型的建模方法。     

Viloft/中空涤纶混纺面料

简述维劳夫特纤维(Viloft)用于服装面料的基本特性和纺纱时的工艺特点，重点指出该纤维和涤纶纤维；昆纺时应打破传统的并条混纺工艺，采用圆盘混棉、必不可少的多仓混棉工序以及三道以上的并条混合，才能使成纱质量得以提高。列出了并条混棉和回盘混棉两种工艺路线的对比实验结果，分析了维劳夫特纤维纱毛羽的产生原因及解决办法，重点介绍了正面为涤棉纱、反面为维劳夫特和涤纶中空纤维混纺纱的经二重组织织物特殊织造工艺以及印染时应注意的事项。     

精密内圆磨削过程建模与质量控制系统

根据建模速度及预报精度,重点分析了内圆磨削过程的时间序列AR(n)模型、离散勒让德多项式L(m,n)模型和用灰色系统理论对内圆磨削过程建模的可能性.计算机的模拟结果证明:AR(n)模型、L(m,n)模型和灰色模型GM(1,1)均可适于内圆磨削过程.在此基础上,设计了旨在提高轴承内圈加工质量和生产率的质量控制系统.     

采用时序谱分析纱条的不匀结构

本文采用ARMA模型谱分析纱条不匀,通过与条干仪分析结果对比发现,在对信号经21阶 FIR低通滤波器滤波后,选择ARMA(5,1)到ARMA(8,2)的模型,能得到较好的分析结果。对此,本文检验了不少纱条不匀信号的非稳定性,这在选择模型参数辨识方法时应予注意。     

实际纱条的片段间变异-长度曲线与纱条不匀结构的关系

本文应用电子计算机和乌斯特(Uster)纱线均匀度仪的适当组合,实测了正常纱、含周期不匀纱和牵伸不匀纱条的片段间变异——长度曲线(简称B(L)曲线),找出了实际纱条的B(L)曲线与纱条不匀结构的关系。又应用随机过程理论和傅立叶变换方法,推证了实际纱条的B(L)曲线与纱条细度变化的各波长分量之间的关系,从而把过去沿用的有关理想纱条的B(L)曲线的理论发展到对实际纱条B(L)曲线的理性认识。本文所采用的测试方法,可作为今后研究纱条不匀和仪器研制工作的借鉴。     

黄麻工艺纤维长度、细度变化与纱条不匀率的关系

本文叙述了黄麻纺纱中各工序工艺纤维长度、细度的变化,分析了黄麻工艺纤维长度、细度与细纱不匀率的关系,对黄麻纱条的理论不匀率进行了研究,提出了计算公式。通过对各工序的麻条和细纱不匀率进行试验和分析,认为二梳、头并、二并有利于纱条不匀率的降低,而末并和细纱工序对纱条不匀率有所恶化,因而对三并和细纱工序的工艺、牵伸机构等应给予足够的重视,加强工艺管理。同时在提高细纱牵伸的前提下,可省去末道并条工程。     

多变量灰色模型在预测中的应用

单变量的GM(1,1)模型用于单一时间序列的建模与预测,而MGM(1,n)模型是对GM(1,1)模型在多元变量情况下的自然推广,通过对MGM(1,n)模型建立过程以及应用方法的示例,来说明该模型的现实应用价值.     

基于灰色拓扑理论水库径流趋势的预测

以累计观测的径流量数据绘出平均径流波动图形,n条阈直线(ξi)与图形的交点至原点的测度构成建模的原始数据,即n个数列.对n个数列做IGO变形,求出紧邻均值生成序列,建立GM(1,1)模型.用matlab程序计算时间响应函数得到还原值.通过残差精度的大小选出平均流量最可能出现的年份,按时间顺序绘出水库径流在未来一定时期内的趋势图.     

基于逐步优化构造背景值和倒数累加生成非等间距多变量的优化MGRM(1,n)模型

灰色系统理论是研究贫乏信息的科学理论,具有广泛的适应性.应用逐步优化的建模方法构造多变量非等间距优化灰色模型MGRM(1,n)的背景值,以相对误差均值最小为目标函数,以MGRM(1,n)响应初值修正量为设计变量,基于倒数累加生成建立了非等间距多变量优化灰色模型MGRM(1,n).该模型不仅适合于等间距建模型,也适合于非等间距建模,拓广了灰色模型的应用范围.该模型精度高,使用简单.实例表明所建模型的实用性与可靠性.     

高速并条机匀整延迟时间的测试与分析

应用虚拟仪器测试技术开发了一套高速并条机自调匀整装置测试仪器。首先构建自调匀整装置的测试系统，其次利用LabVIEW软件对跳条实验所采集的纱条条干数据进行频谱分析，最后根据所得的纱条条干不匀曲线，检测出并条机的匀整延迟时间。经在线调试后的自调匀整装置，可以基本消除因匀整时间过长或过短所带来的纱条条干不匀，有效提高了输出纱条的条干质量，降低了调试人员的工作量。     

纱条不匀的灰色预测

应用灰色预测理论，对纱条不匀进行了预测，建立了纱条不匀灰色预测的数学模型，并对该模型进行了精度检验。     

理想纱条的数学建模

通过时纤维的线密度引入平稳过程和窗函数两个概念,提出了纤维的一种数学模型.在此基础上,对理想纱条的假设条件作了减弱,建立了一种更具普遍意义的理想纱条的数学模型.     

圈条铺放均匀程度的研究

在纺机上广泛采用的固定位置偏置圈条筒式圈条器存在着一个明显的缺点,其铺放的条子在气孔和条筒壁附近形成局部密度很高的区域,使铺放的均匀程度很差,影响条筒容量.改进的办法之一是采用能使其偏距(即偏置距离)作周期性变动的机构,以达到移密就疏,从而改善铺放均匀程度和增大条筒容量的效果,在某些机台上约可增加10%～15%的条子容量.这里对此作了定量分析和对比.     

用AR模型分析纱条不匀和故障识别的研究

本文在IBM PC/XT微机上,采用模型参数法和模式识别技术,进行了纱条不匀的分析和生产中故障识别的初步研究。研究表明:使用18阶的AR模型所得到的熟条功率谱曲线,能有效地反映出熟条的不匀结构。采用修正的K-L近邻法使故障识别准确率达到85％。这种模型参数法和故障识别技术对改进纺纱工艺有一定的应用价值。     

纺纱工程中牵伸过程的数学模型

提出了纺织工程中纱条牵伸的一个数学模型,将纱条牵伸归结为一个非线性的分布时滞系统,进而对模型线性化,将分布时滞系统转化等价的集中时滞系统以达到控制目的。     

模糊数学在图像识别中的应用

共晶碳化物分布的不均匀性是反映工具钢质量的重要指标之一。如何定量描述碳化物的不均性，如何客观地评定其级别，这是一个亟待解决的问题。本文应用模糊集理论，构造了三种评定碳化物不均匀性的数学模型，并编制了自动识别的计算机软件。通过实例对它们的优劣进行了比较。结果表明：模型I准确最高，为83％，模型Ⅱ次之，为65％，而模型Ⅲ仅为43％。     

纱条不匀的功率谱分析与微机实现

本文的第一部分讨论了理想纱条与实际纱条的功率谱,不仅给出了比以往更严格的理论公式,而且通过将纱条不匀分解成几个基本平稳过程之和,讨论了实际纱条功率谱密度的典型形式。同时,还指出乌斯特波长谱与均方根谱密度属于不同的概念:前著既不表征 CV 值的波长分布,也不可与理想纱条的均方根谱密度相比。本文的第二部分提出了用十六位微处理器 Intel 8086实现纱条不匀谱分析的设想,并完成了其主要软件(包括一定点 FFT 子程序)的设计与调试。将 IBM-PC 与乌斯特传感器联机的实验结果表明,功率谱能在功能上代替乌斯特波长谱。本系统的算法简单而高效,与乌斯特仪器相比,不仅成本很低,且其功能和灵活性将更胜一筹。     

Effect of Voltage and Gauge of Electrostatic Plate on Card Sliver Quality

In order to find the effect of state device installed on a carding machine on card sliver quality, card slivers produced in conditions of different voltages and gauges were tested by USTER AFIS. The results show that, when the gauge is 1 nun, most parameters of card sliver quality are better when voltage is 600 V than those when no voltage is applied. The contents of nep, trash, visible foreign matter （VFM） and short fiber content by number （SFCn）, short fiber content by weight （SFCw）, immature fiber content （IFC） of card sliver decrease by 5.9%, 16.7%, 12.5%, 5.3%, 4.8% and 1.6%, respectively, but seed coat nep （SCN） content of card sliver doesn＇t decrease. When the electrostatic plate gauge is 2 mm and electrostatic voltage is 4000 V, the removal efficiency of neps and SCN is remarkable, decreasing by 8.7% and 25% respectively. Card sliver quality is hardly improved under any voltage when the gauge between electrostatic plate and cylinder is 3mm.