X射线衍射测量中扫描速度对实验结果的影响

分析了X射线衍射测量中扫描速度对衍射结果的影响。在实验基础上分别对广角X射线衍射和小角X射线衍射在不同扫描速度下的研究进行了探讨。结果表明,在广角X射线衍射分析测量中,要想得到理想的衍射数据,扫描速度设定为2deg./min比较合适。在小角X射线衍射测量中,扫描速度设定为0.5deg./min较为合理。     

■注入Si 的晶格应变与扩展电阻

本文用全自动化x射线衍射仪给出了As~+注入Si的x射线衍射峰分布。用Levenberg-Marguarat法模拟实验曲线,根据x射线衍射的运动学理论,在试探应变函数和多层模型的基础上,通过自编程序计算给出了As~+注入Si后晶格变随注入深度、注入剂量和退火温度的变化。同时,测量了As~+注入Si后在不同温度下的扩展电阻,将扩展电阻换算成电阻率。结果表明,离子注入引起晶体微观结构的变化——晶格应变与晶体宏观电学性质——电阻率的变化基本上一致。     

西藏胡黄连X射线衍射Fourier图谱鉴定

目的：建立中药材胡黄加的鉴定分析新方法．方法；采用粉末X射线衍射Fourier谱鉴定法．应用粉米X射线衍射Fourier谱鉴定法对1个西藏胡黄连药材对照品和4个西藏胡黄连中药材进行了分析鉴定．结果：获得了西藏胡黄连的标准X射线衍射Fourier指纹图谱及特征标记峰值．结论表明：粉末X射线衍射Fourier谱鉴定法可用于中药材胡黄连的鉴定．     

中药材女贞子X射线衍射Fourier图谱鉴定

目的：建立中药材女贞子的鉴定分析新方法．方法：采用了粉末X射线衍射Fourier图谱鉴定法．对1个女贞子药材对照品和5个女贞子中药材进行了实验、分析．结果：获得了女贞子的标准X射线衍射Fourier图谱及特征标记峰值．结论：X射线衍射Fourier谱鉴定法可用于中药材女贞于的鉴定．     

用 x 射线衍射方法测定金属晶体结构

本文阐述用 x 射线衍射测定晶体结构的原理、方法和步骤.给出了铜的晶格常数的测定结果.实验表明;用 x 射线衍射方法测定晶体结构简便可靠.     

应用X射线衍射测定木材纤维的超微结构

<正>本文应用转靶x射线衍射仪,测定了马尾松木材不同部位纤维的品区长度、宽度及纤维素大分子链的取向因子;同时提出以(040)面衍射测定马尾松木材纤维平均微纤丝角的新方法。     

X射线衍射分析的实验方法及其应用

概要介绍了X射线衍射分析的原理及其相关理论，总结了X射线衍射的各种实验方法，对X射线衍射分析的应用分别进行了叙述，最后对X射线衍射分析的发展进行了展望。     

Mo-P合金机械合金化研究

采用高能球磨机,对Mo100-xPx(x=15,25,38,43,50,66.7,85,95 at.%)二元系统进行机械合金化研究,用X射线衍射仪对球磨后的合金粉末的结构进行了分析,用扫描电子显微镜对样品的形貌和粒度作了分析.结果表明在球磨100h后Mo-P系统的晶粒尺寸平均约为60nm.Mo和P在等成份附近时有相应的化合物MoP生成,其它成份时产生Mo(P)过饱和固溶体.     

五台山显通寺云牌的X射线衍射定性分析

本文在金相观察的基础上,利用x射线衍射微分区分析方法,对五台山显通寺云牌的物相进行了初步分析。     

TiCu金属玻璃结构的中子和X射线的衍射研究

通过比较由中子衍射和x射线衍射得到的原子密度径向分布函数,进一步研究了金属玻璃TiCu的结构,某些结构细节已被揭示出来。     

X射线连续谱的衍射峰

本文借助于ＤｕＭｏｎｄ图，阐明了带单色器Ｘ射线衍射仪连续谱衍射峰产生的机理，并讨论了如何判断及消除连续谱的衍射峰。     

X射线物相分析的微机模拟

报导了多媒体软件动态模拟X射线物相分析的全过程．该多媒体软件在奔腾系列个人计算机上选用Windows98为开发和运行环境，Visual Basic 6.0为主开发工具．详细介绍了多晶X射线衍射仪的工作条件设定，衍射仪的工作原理，衍射数据采集和衍射图谱绘制，物象分析的模拟过程以及软件的设计思想、主要功能、技术关键和使用方法，并给出了实例．     

纸张纤维及填料的X射线取向分析

提出了利用ｘ射线衍射法的分析纸张中纤维取向的简便方法，该方法能定量计算出纸张中纤维取向的角分布函数，基于对纸张原料及纸张的Ｘ射线衍射方位角扫描谱半高宽度的测量。对几种商品纸的填料取向也作了分析，从ｘ射线方位角扫描谱的分析表明：滑石粉、高岭土和硫酸顿在纸张中都存在沿纤维方向的品轴取向，而装饰纸中ＴｉＯ２填料的晶轴取向不明显。     

测定薄膜厚度的基片X射线衍射法

基于X射线衍射与吸收理论，建立了一种薄膜厚度测量方法，即基片多级衍射法．利用X射线衍射仪测量高速钢表面的TiN薄膜厚度，由于膜下基片的衍射强度较高及衍射峰形良好，可以确保薄膜厚度的测量精度．本法克服了非晶薄膜材料中薄膜衍射信息较差以及存在织构等不利因素所导致测量结果不可靠等问题．     

氮化钛薄膜的x射线分析

用x射线衍射法对由磁控溅射生成的氮化钛薄膜进行了结构、晶粒大小和应力分析,结果表明,薄膜的结构和性质与形成条件密切相关。     

X射线衍射分析的实验方法及其应用

概要介绍了X射线衍射分析的原理及其相关理论,总结了X射线衍射的各种实验方法,对X射线衍射分析的应用分别进行了叙述,最后对X射线衍射分析的发展进行了展望.     

(PYH)_4[Mo_2O_3(SO_4)(NCS)_6]的晶体结构

(PYH)4[Mo2O3(SO4)(NCS)6]的昂体结构采用x射线衍射法测定。晶体属三斜晶系,空间群p1,a 11.060(1)、b 8.526(2)、c 12.059(1)A,a 95.40(2)°、β 114.08(1)°、γ 97.522(2)°,Z=1,Dobs1.640、Dcalc.1.643 g.cm-3。 衍射强度收集-在ENRAF—NONIUS CAD—4四园衍射仪上,用Mo—Ka射线,θ～2θ扫描方式,在1°<θ<28°的范围内,收集到衍射点5160个,其中独立衍射点4905个。衍射点的心对称部分取平均。强度数据经LP因子、衰减因子和吸收因子校正。 晶体结构系通过直接法和电子密度函数法解出。调用MUNTAN—80直接法程序,从E图上得…     

NSRL衍射和散射站的性能及在材料科学中的典型应用

介绍了国家同步辐射实验室二期工程X射线衍射和散射光束线实验站的建设与主要设备.利用设备采用X射线反射法,在不破坏样品的情况下得到了Si/C多层膜的结构信息;通过对标准Si粉末样品的FWHM测试表明该站可进行粉末全谱扫描;利用X射线掠入射衍射技术分析了ZnO薄膜的生长条件与结构的关系;采用X射线散斑方法直接观测了弛豫铁电体内部的纳米空间尺度的电极化团簇的空间时间构造.     

粉末X射线衍射技术在实验教学中的应用

粉末X射线衍射（powder X—ray diffraction,XRD）是一种应用广泛的无损分析测试技术。在实验教学中,通过XRD对样品进行物相分析,使学生了解粉末X射线衍射仪的基本构造和原理,掌握物相分析的方法,有益于激发学生对科研的兴趣和培养他们的科学思维能力。     

NSRL衍射和散射站的性能及在材料科学中的典型应用

介绍了国家同步辐射实验室二期工程X射线衍射和散射光束线实验站的建设与主要设备．利用设备采用X射线反射法，在不破坏样品的情况下得到了Si／C多层膜的结构信息；通过对标准Si粉末样品的FWHM测试表明该站可进行粉末全谱扫描；利用X射线掠入射衍射技术分析了ZnO薄膜的生长条件与结构的关系；采用X射线散斑方法直接观测了弛豫铁电体内部的纳米空间尺度的电极化团簇的空间时间构造．