等厚干涉与等倾干涉之比较

对牛顿环等厚干涉和薄膜等倾干涉条纹形成原理,干涉条纹的半径、间距、干涉级次等进行比较和分析,揭示两种相似条纹的本质区别。     

用计算机模拟分析等倾干涉的时间相干性

等倾干涉的时间相干性有别于等厚干涉的时间相干性，其干涉条纹可见度与面光源的入射角有直接的关系，通过计算机绘制的可见度与入射角对应的关系图形，分析了光源的非单色性对等倾干涉条纹可见度的影响并将研究范围扩充到多个周期，对光的时间相干性理论作了进一步的补充．     

薄膜干涉条纹定域和形状问题的讨论

基于薄膜干涉光程差公式，介绍了干涉条纹的定域和形状与薄膜厚度、光线入射角、照明光源的类型、条纹观察方式等因素的连带关系，并着重讨论了面光源照明、眼睛观察时，既非等厚又不是等倾干涉情况下的条纹形状问题。     

透射光的等厚干涉及条纹分析

介绍一种观察透射光等厚干涉的新方法 ,该方法丰富了等厚干涉的内容 .利用光的干涉理论 ,计算了不同薄膜界面反射率 (光强反射率 <0 .5 )对应的干涉条纹光强分布 .实验中通过镀膜增加玻璃板的反射率 ,提高了条纹的可见度 .并将透射光的条纹与反射光的条纹进行了比较和分析     

等厚干涉条纹的数据处理

讨论等厚干涉条纹的数据处理方法,对一元线性回归和非线性优化方法进行比较,得到非一性优化方法明显优于一元线性回归的结论,非线性优化方法对干涉条纹数较少的情况尤为适用。     

等倾干涉条纹与牛顿环的比较

薄膜干涉是大学物理和光学课程中一种非常重要的光学现象,薄膜干涉可以分为等倾干涉和等厚干涉。该文针对等倾干涉条纹和牛顿环的形成原理和特点进行了分析,比较了这两种明暗相间的同心圆环条纹的半径和间距、条纹的级次、条纹的移动规律,得出了这两种形状相似而实质不同的干涉条纹的区别和联系,有助于学生理解和掌握。     

迈克尔逊干涉仪实验常见问题的分析与处理

针对在迈克尔逊实验教学中学生对等倾干涉判断不准确、等倾干涉圆环的调节过程欠当和干涉条纹"冒出"与"陷入"的问题进行分析,提出了解决方案.     

单色光源的迈克尔逊干涉仪等倾干涉花样的解析分析

本文用解析方法对单色光源的迈克尔逊干涉仪的等倾干涉花样进行分析,得到条纹宽度随干涉花样级次变化的规律。     

利用等厚干涉方法测定液体折射率

根据光的等厚干涉原理，利用不同的实验装置(牛顿环仪装置和劈尖装置)，分别研究了不同薄膜介质下的等厚干涉现象；在此基础上，研究了不同介质下的等厚干涉条纹分布，进一步得出液体(酒精和水)折射率的测量方法.     

光源的非单色性对等倾干涉条纹可见度的影响

通过数值模拟的方法，分析了光源的非单色性对等倾干涉条纹可见度的影响，并将等倾干涉条纹可见度问题的研究范围由一个周期扩展到多个周期，进而对等倾干涉实验做更深入的研究与讨论，得到一套利用MATHCAD软件完成数值实验的方法。     

迈克尔逊干涉仪测量平行透明物厚度或折射率

迈克尔逊干涉仪可较方便的获得稳定的等倾干涉现象。光路中介质特性的变化直接影响等倾干涉条纹的分布状况。用等倾干涉测量介质厚度或折射率,一般须避免对难于测量的入射光倾角和干涉条纹绝对级次等量的确定,传统的方法往往采取移动反射镜或改变被测介质的几何位置以获得等倾条纹中心级次改变来实现。如果合理利用透镜的成像原理和入射光小角度下良好的近似关系,则可简便地通过测定等倾干涉条纹直径,来确定平行透明物的厚度或折射率。     

变频矿用主通风机流量比与功率比的非等比特性实验研究

为了解决普遍存在的变频调节节能预估偏大的问题,利用自主研制的矿用主通风机实验平台,开展了多变频率主通风机流量与功率的实验实测.以经典的三次方等比比例定律公式为基础,应用最小二乘法进行了15个变频调节工况的实验数据处理拟合,得到了流量-功率的三次方多项式,并得到了流量比-功率比的三次方多项式.实验所得的流量比-功率比公式及其曲线,表明流量比-功率比存在可逼近的极限值,具有非等比例变化特性.该非等比变化律公式提供了一种主通风机变频节能率的预估方法.     

牛顿环实验的分析与扩展研究

通过对牛顿环等厚干涉原理的介绍,分析了牛顿环干涉图样中一些特殊图样的形成,同时,为了扩展牛顿环实验的应用,提出了利用牛顿环装置测量透明介质折射率的扩展实验.     

基于等厚干涉原理的圆度误差测量方法

提出了一种基于等厚干涉和CCD自动测量圆度误差的新方法.阐述了利用等厚干涉,通过线阵CCD图像处理系统自动测量圆度误差的测量原理.采用最小二乘圆法对测量到的数据进行圆度误差评定,测量结果表明,新方法测量迅速、精确度高.该测量方法可以实现圆度误差的实时在线准确测量,适用与高精度加工工件的进一步精确测量,具有较广阔的应用前景.     

等厚干涉法测量薄膜厚度的两种方法

等厚干涉法测量薄膜厚度设备简易,操作方便,分析直观,在生产中有着广泛的应用.本文探讨了两种等厚干涉法测量薄膜厚度的原理与方法,利用预先形成的薄膜台阶产生空气或透明材料劈尖,单色光在劈尖上下两界面的反射光发生相干叠加产生干涉条纹,通过条纹相关参数的测量,获得薄膜的厚度.通过比较,空气劈尖法较之薄膜劈尖法操作更简易、准确,因而更实用.     

改用球面镜的迈克耳孙干涉仪与牛顿环实验的研究

将迈克耳孙于涉仪的一个反射镜改装为球面镜，可以得到与牛顿环实验等效的光路，平行光照明时可制作波带片．反射镜移动时条纹变化有一定的规律，移动时随着等光程位置的改变，可使彩色条纹为不同大小的圆环．     

等厚干涉条纹的定域

讨论了等厚干涉中的定域问题,并由空间相干性的观点给出了定域中心和定域深度在直角坐标系中的具体表达式.     

牛顿环问题探讨

运用薄膜干涉的理论，分析了不同条件下的牛顿圈干涉条纹。通过对比，说明条纹的异同，并得出一般性的结论。     

气泡干涉的远场分析

对透明液体、固体中气泡在激光照射下产生的一种非单心光束干涉进行了远场分析,得到了程差公式,分析了干涉的区域、圆环状干涉条纹内密外疏的原因,通过干涉的方法可以测量气泡的直径,能够用于介质深处气泡尺寸及泡内气体折射率的测量.