空间辐射对CCD器件暗电流的影响研究

电荷耦合器件CCD(Charge Coupled Device，CCD)作为卫星光通信系统中光信标子系统的关键部件,它的工作性能直接影响着光通信系统的整体性能。根据Shockley-Read-Hall理论,对粒子辐照条件下CCD器件的暗电流变化进行了深入的理论分析,依据理论分析展开数值模拟计算。结果表明：P沟道CCD辐照后的平均暗电流密度随温度的升高而增加、随辐照注量的提高而增大,暗电流尖峰产生的位置具有强烈的随机特性;温度较粒子辐照注量更能有效影响平均暗电流密度以及暗电流尖峰的产生,温控器件以及温控技术将是决定CCD定位精度的重要环节。     

CCD传感器工作原理及光强分布的测量

介绍了一种新型半导体集成光电转换器件,即电荷耦合器件(charge coupled devices,CCD)的工作原理及其应用.应用CCD可直接测量单缝衍射的光强分布,并可在数显示波器中直接显示光强分布曲线的全貌,从而精确测量单缝宽度.     

一种基于线阵CCD的一米光栅光谱分析仪

介绍一种基于线阵CCD(电荷耦合器件)的一米光栅光谱分析仪。光电器件CCD的引入提高了对光谱信息采样的速度和精度,并通过模数转换单元将采集数据传输至计算机,从而提高了对光谱信息的存储、传输和分析处理效率。     

基于线阵CCD的简单测量

电荷耦合器件是70年代初期发现的新型集成光电传感器件,它通过高度感光的半导体材料将接收到的光信号转换成电信号,再经过模数转换得到可被计算机识别的数字信号,从而对被测物体进行精确的测量和分析。自CCD诞生以来,它在非接触测量领域发挥了巨大的作用。基于对物体尺寸的测量,可以对物体进行简单测量。     

基于ARM的线阵CCD测距系统设计

CCD(电荷耦合器件)是一种高性能的半导体光电器件,近年来在摄像、工业检测等科技领域里得到了广泛的应用。将CCD测量系统应用于几何量测量中,可以满足高精度测量、在线动态检测和非接触测量等工程实际要求。主要研究内容是采用双目视差原理来测距,重点在于线阵CCD数据采集及处理系统的软硬件设计。首先在详细分析了线阵CCD的工作原理的基础上采用CPLD(复杂可编程逻辑器件)设计了线阵CCD积分时间和主频同时可调的驱动时序脉冲电路;最后设计了ARM7TDMI微控制器LPC2214为中心的信号处理系统硬件电路。     

用BBD器件进行实时变频

电荷转移器件CTD(Charge Transfer Device)是本世纪七十年代初期诞生的一种新型电子器件。它主要分为两大类,一种称为电荷耦合器件CCD(Charge Coupled Devices),另一种称为戽键器件BBD(Bucket Brigades Devices)。我们成功地使用国产的BBD器件BD512进行了语音实时变频。此器件含有串联排列的256级模拟存储单元,从输入级输入模拟信号,以对应于该模拟量大小的电荷量存储。在时钟信号控制下,每经过两个时钟周期后各级电荷分别传到了下一级,同时输入级又进行了新的一次采样;经过512个时钟周期后,各级依序存储着256个采样     

利用CCD测量单缝衍射光强分布

利用一种新型半导体集成光电器件,即CCD(ChargeCoupleDevices)电荷耦合器件,并通过CCD专用接口卡来直接测量单缝衍射光强分布,实现测试数据自动采集和实验结果自动输出。叙述了线阵CCD测量光强度的原理,分析了系统的软、硬件设计及测试结果。     

基于线阵CCD芯片的非接触式测井深度速度计量系统

介绍了基于线阵CCD的非接触式测量仪器的原理和在石油测井领域的应用,此仪器可以连续非接式的测量被测物的长度和速度。此系统主要是基于线阵CCD,线阵CCD是电荷藕合器件图像传感器的简称,它使用一种高感光度的半导体材料制成,能把光线转变成电荷,通过模数转换器芯片转换成数字图像信号,此数字图像信号经过处理就可得到物体的运动信息,此测量方法主要特点是"非接触"、不受环境限制、测量精度高,适用范围广等。     

硅烷热分解汽相淀积多晶硅

本文讨论了电荷耦合器件(CCD)的多晶薄膜的淀积,研究了多晶硅薄膜的掺杂,报导了以三氯化磷为淀积多晶硅薄膜的掺杂剂实验结果。文中还分析了多晶硅对CCD器件性能的影响。     

线阵CCD驱动电路的可编程设计与实现

电荷耦合器件CCD是目前广泛应用的集成半导体传感器件,通过对线阵CCD的结构原理及驱动时序等主要特性进行分析,运用VHDL硬件描述语言,结合复杂可编程逻辑器件CPLD,完成了对TCD132D线阵CCD驱动电路的可编程设计。设计仿真结果与实验结果表明该电路能提供多种驱动时序,硬件电路简单,实用性强,为实现线阵CCD驱动频率可调、积分时间可调的驱动设计提供了实践依据。