双光束对称入射云纹干涉法测量物体的形变

在阐述双光束对称云纹干涉法的基本原理基础上,分析了具体实现云纹干涉法的过程,理论上得到了云纹干涉法中入射光严格对称入射时和实验中非对称入射时两入射角所需要满足的入射条件。通过对云纹干涉法的理论分析,给出了测量应变分布的方法。     

双光束载波散斑干涉法

本文提出的双光束载波散斑干涉法是将载波原理与双光束散干斑涉法相结合,通过光载波条纹对全场干涉条纹的规范化调制,然后通过计算机进行解调而达到高精度测量的一种新的测试方法。它提高了双光束散斑干涉法的测试灵敏度,精度和扩大了测试范围。     

固体材料线胀系数的多光束干涉法测量

多光束干涉由于其干涉条纹精细,常用于测量微小物理量的变化.设计了一种测量固体线膨胀系数的装置,利用固体线膨胀时长度改变引起入射到法布里-波罗干涉仪的激光光束角度发生变化的特点,测量了固体棒的线膨胀系数.     

反射式高灵敏度云纹干涉法

介绍了一种新的实验力学方法——反射式高灵敏度云纹干涉法。本文首次采用高密度（６００线／毫米）位相型闪耀光栅的试件栅；在两相干准直光束对称地照射下，利用一次曝光的实时法和预加载波图样（１０—２０线／毫米）的两次曝光法，并用空间滤波手段分别获得了倍增系数为２的由载荷（或载荷差）所引起的构件表面Ｕ和Ｖ位移场云纹干涉条纹图样。提出了本实验的光路系统和实验装置，进行了典型性定量实验，给出了应用实例。     

双光束、夹层、载波散斑干涉法及其在断裂力学中的应用

文献分别介绍了作者对双光束散斑干涉法以及测试范围、双光束夹层散斑干涉法、双光束载波散斑干涉法的探讨和见解。本文概括地总结,并将其应用于断裂力学,实现了一种确定带裂纹试件应力强度因子的新方法——散斑位移配置法。     

金属材料高温蠕变变形的云纹干涉法实验研究

为了研究金属材料高温蠕变及其不均匀应变场的变形规律，使用高温双镀层全息光栅（线密度为 １２００ｍｍ－１）并应用云纹干涉法对 ２０号钢带孔拉伸试件在 ６００℃下的拉伸蠕变进行了测量研究，提出了云纹干涉法测量残余蠕变变形的基本原理，得到了该试件在 ４０ ｈ范围内的残余蠕变云纹场和试件应变集中系数随蠕变时间的变化规律，且应用蠕变理论对所得结果进行了分析。实验结果表明，使用双镀层高温栅进行高温蠕变的云纹干涉法测量是可行的。     

双片双光束散斑干涉法

作者在本文中首次提出双片双光束散斑干涉法,并成功地进行了实验.实验表明:其干涉条纹分布与二次曝光双光束散斑干涉条纹分布相同.这与本文理论推导得到的结论完全一致.但双片法相对于双曝光法具有减少量测工作量和降低累积误差,并可以在自然光下准确加载等优点.     

利用杨氏双缝干涉实验检测涡旋光束的拓扑荷数

研究涡旋光束经过杨氏双缝干涉后的干涉条纹,发现不同于平面波的竖直干涉条纹,涡旋光束的干涉条纹出现扭曲.从条纹的上部往下看,涡旋光束的干涉条纹出现横向的移动,而移动的方向和大小分别取决于涡旋光束拓扑荷数的符号和数值大小.对干涉条纹进行观察发现,实验观察结果和理论结果基本上保持一致,可以通过观察涡旋光束的干涉条纹来判断涡旋光束的轨道角动量.     

二次曝光双光束散斑干涉新现象及其论证

本文在前人研究的基础上,通过双光束散斑干涉实验发现了一些新的物理现象,在同张双光束散斑干涉图中,同时记录有等同于单光束散斑照相的信息;干涉条纹受照相条纹的调制等。本文对上述现象作出了从数学、物理方面论证,得到了一些有益的结论。     

云纹干涉法中干涉条纹的计算机自动识别研究

将数字图像处理技术运用于云纹干涉图片中干涉条纹的处理,首先通过去噪、二值化操作,然后通过细化二值图,将黑色条纹细化成条纹中间的单像素散点,运用Hough变换将散点拟合成连续的直线,最后通过膨胀,将直线中间的“气泡”填充,并再次运用细化原理,将填充后的黑色条纹细化成连续的单像素宽度条纹,通过编制相关程序,用计算机成功的检测出图片中干涉条纹的数目。与传统人工判读条纹数目相比,本方法完全自动化,很大程度上促进了云纹干涉法的向前发展。     

关联矩阵与拟阵

对于两个有限集C、D的一个包含关系A (C×D),及C的一个序σ,由序σ所决定的包含关系的关联矩阵,可以构造一个拟阵M(σ)。首先给出了M(σ)的一些简单性质。并在文献[1]中提出的有关M(σ)的猜想的基础上,作了一些进一步的工作,提出了一种可能解决这个猜想的思路。     

一种满足灰关联四公理的关联度量化模型

在已有灰色关联理论的基础上,简要综述了现有的几种典型灰色关联度量化模型,并分别指出了其缺陷.在此基础上,领会灰色关联度公理的内涵,提出了一种灰色关联度量化模型——综合模型,该模型既考察序列间的绝对位置差异,也考察其变化率的差异,克服了现有关联度量化模型的缺陷.进而,证明了其科学性,并说明了在应用中应当注意的问题.     

一些图的关联着色

1993年．Brualdi和Massey猜想每一个图G可以用△（G）＋2种色正常关联着色．尽管Algor和Alon通过一个例子否定了该猜想,但是对一些特殊图类该猜想可能成立．通过给出块图和单圈图的关联色数。证明了猜想对这两类图成立,并讨论了图G和H的冠图的关联色数．     

拟阵的基关联矩阵

提出了拟阵的基关联矩阵概念,基于此给出了一个求秩的公式,以及一个矩阵是拟阵的基关联矩阵的充要条件.同时给出两个拟阵有K-公共独立集(基数为K的公共独立集)的另一充要条件,并与Edmonds交定理判定的复杂性进行了比较.     

分类格及关联几何

本文主要研究下述的三个概念:分类格,联格,关联几何,首先证明了关于分类格的几个定理(定理1—定理3),其次证明了描述联格及关联几何之间关系的一个定理(定理4)。     

关于冠图的关联着色

证明“每个GL科能用Δ＋2各颜色进行关联着色的ICC猜想对一些图图是成立的。     

关于冠图的关联着色

设 G =( V,E)是一个图 ,称 I( G) ={ ( v,e) |v∈ V,e∈ E,v与 e相关联 }是 G的关联集 .I( G)的两元素 ( v,e)和 ( w,f )是相邻的当且仅当下列三条之一成立 :( 1) v=w;( 2 ) e=f ;( 3) vw =e或 f .图 G的关联着色是从 E( G)到一颜色集 C的映射 ,使得 E( G)中任何两相邻元素有不同的像 ,其中 C中所含元素的最小个数称为 G的关联色数 ,记为 inc( G) .这一概念是 Brualdi等在 1993年提出的 ,并提出了如下猜想 :每个图都能用Δ ( G) +2种颜色进行关联着色 .本文证明了对于树图、轮图、扇图、圈和完全二部图的冠图猜想成立 .     

斜入射消色差延迟器理论

为了提高斜入射消色差延迟器件的精度,通过分析两种斜入射结构,得出了消色差性能较好的结构.结果表明,这种较好的结构由于折射率n和全内反射角θ引起相位延迟δ的变化趋势相反,而减弱相位延迟δ的变化,因而可以设计出高精度的消色差相位延迟器件.     

高度平面图的关联着色

Ｒｉｃｈａｒｄ定义了图的关联着色，并且提出了一个猜想：每一个图都能用△＋２种颜色下沉关联着色。