首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

光栅投影三维测量中一种新的线条纹细化算法
引用本文:潘淑杰,董守平,刘艳.光栅投影三维测量中一种新的线条纹细化算法[J].科学技术与工程,2006,6(17):2772-2773.
作者姓名:潘淑杰  董守平  刘艳
作者单位:中国石油大学(北京)机电工程学院,北京,102249
摘    要:针对光栅投影三维测量中的线条纹,提出了一种新的条纹细化方法。实验证明,该算法获得了理想的处理效果。

关 键 词:二值图像  细化  算法  模板
文章编号:1671-1815(2006)17-2772-02
收稿时间:2006-05-09
修稿时间:2006年5月9日

A new thinning algorithm for linear stripe image in 3-D profilometry based on grating projection
PAN Shujie,DONG Shouping,LIU Yan.A new thinning algorithm for linear stripe image in 3-D profilometry based on grating projection[J].Science Technology and Engineering,2006,6(17):2772-2773.
Authors:PAN Shujie  DONG Shouping  LIU Yan
Abstract:A new thinning algorithm for liner stripe image in 3-D profilometry measurement using grating projection is proposed. Experiment proved that perfectly effect can be achieved by using this algorithm.
Keywords:binary image  thinning  algorithm  mask
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《科学技术与工程》浏览原始摘要信息
点击此处可从《科学技术与工程》下载免费的PDF全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号