| 生成确定性测试图形的内建自测试方法 |
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| 引用本文： | 雷绍充,邵志标,梁峰.生成确定性测试图形的内建自测试方法[J].西安交通大学学报,2005,39(8):880-884. |
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| 作者姓名： | 雷绍充 邵志标 梁峰 |
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| 作者单位： | 西安交通大学电子与信息工程学院,710049,西安 |
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| 摘 要： | 为了以低的硬件开销自动生成高效率的确定型测试图形,提出一种新型的内建自测试(BIST)方法.先对原型设计用自动测试图形工具生成长度短、故障覆盖率高的确定性测试图形,然后对生成的图形排序以取得低功耗测试序列,再选择状态机优化和综合方案,最后自动生成BIST电路描述.由于结合了确定性测试和伪随机测试的优点,该方法具有低功耗、长度短、故障覆盖率高、测试图形自动生成等特色,特别适于CMOS组合逻辑电路的测试.基于ISCAS85Benchmark的实验结果表明,所设计的BIST电路在硬件开销、速度、测试功耗等方面均优于传统的伪随机测试电路,测试时间显著减少.
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| 关 键 词： | 低功耗 确定性测试图形 内建自测试 状态机 |
| 文章编号： | 0253-987X(2005)08-0880-05 |
| 收稿时间： | 11 1 2004 12:00AM |
| 修稿时间： | 2004年11月1日 |
New Built-in-Self-Test Technique for Generating Deterministic Test Pattern |
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| Lei Shaochong,Shao Zhibiao,Liang Feng.New Built-in-Self-Test Technique for Generating Deterministic Test Pattern[J].Journal of Xi'an Jiaotong University,2005,39(8):880-884. |
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| Authors: | Lei Shaochong Shao Zhibiao Liang Feng |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | low power consumption deterministic test pattern built-in self-test finite state machine |
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