石墨C—C键的温度、压力效应及键长的Raman频率表征

本文在20℃～550℃,0GPa～13GPa压力区间内测量了石墨的Raman光谱,并在20℃～1100℃温度范围内做了石墨的X光衍射实验。实验结果表明,TG64型石墨在20℃～750℃温度范围内C-C键长随温度升高而收缩,温度高于750℃时键长随温度升高而膨胀。高压Raman的结果表明,石墨的E_(2q)活性模的频率随压力升高分段线性收缩,分段点在4GPa附近。同时还对在常温常压下利用Raman频率计算石墨C—C键长的Fitzer公式做了修正,并分别给出了温度和压力的修正因子以及C—C键力常数随温度、压力变化的规律。