| SRAM的一种可测性设计 |
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| 引用本文： | 朱小莉,陈迪平,王镇道.SRAM的一种可测性设计[J].湖南大学学报(自然科学版),2003,30(6):22-25. |
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| 作者姓名： | 朱小莉 陈迪平 王镇道 |
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| 作者单位： | 湖南大学,应用物理系,湖南,长沙,410082 |
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| 摘 要： | 用ETCO算法对SRAM进行了内建自测试设计．首先说明了设计的原理，进而对电路中所用的各个单元电路进行了设计，主要包括地址计数器、数据计数器和BIST控制器等．设计出的电路可针对具体的故障模型设置相应的测试长度，从而获得预期的故障覆盖率．测试时不需存储正确响应，并可通过一个响应标志位表示检测的结果．可测性部分对电路硬件的开销较小，所设计的电路在工作站上已成功通过仿真，此电路可广泛应用于嵌入式SRAM，以降低电路的测试难度．
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| 关 键 词： | 内建自测试 线性反馈移位寄存器 故障覆盖率 本原多项式 |
| 文章编号： | 1000-2472(2003)06-0022-04 |
| 修稿时间： | 2003年3月26日 |
A Kind of Design-for-test for SRAM |
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| ZHU Xiao-li,CHEN Di-ping,WANG Zhen-dao.A Kind of Design-for-test for SRAM[J].Journal of Hunan University(Naturnal Science),2003,30(6):22-25. |
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| Authors: | ZHU Xiao-li CHEN Di-ping WANG Zhen-dao |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | built-in self-test Linear-feedback Shift Register (LFSR) fault coverage primitive polynomial |
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