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脉冲式XeCl激光辐照a-Si∶H膜诱导晶化的研究
引用本文:杜开瑛,莫敏.脉冲式XeCl激光辐照a-Si∶H膜诱导晶化的研究[J].四川大学学报(自然科学版),1994(1).
作者姓名:杜开瑛  莫敏
摘    要:当脉冲辐照a-Si∶H膜的XeCl激光能量密度在240mJ/cm ̄2以上时,可引起被辐照膜发生明显的固相晶化;通过拉曼(Raman)散射谱、扫描电子显微照象(SEM)和紫外(UV)分光光度吸收谱的实验,研究了不同辐照条件、不同膜厚及各种膜结构试样的晶化效果;还研究了使用CO_2激光退火对被辐照膜的影响。结果表明,晶化膜的晶粒大小在0.1~1.0μm时,Raman位移为510cm ̄(-1)~517cm ̄(-1)、半峰高宽度为10cm ̄(-1)~15cm ̄(-1);a-Si∶H膜经XeCl激光辐照或CO_2激光退火后,都会增强晶化膜的吸收效率。

关 键 词:氢化非晶硅,脉冲激光,晶化。

A STUDY OF THE XeCl PULSE LASER INDUCED CRYSTALLIZATION OF a-Si:H FILMS
Du Kaiying Mo Min.A STUDY OF THE XeCl PULSE LASER INDUCED CRYSTALLIZATION OF a-Si:H FILMS[J].Journal of Sichuan University (Natural Science Edition),1994(1).
Authors:Du Kaiying Mo Min
Institution:Department of physics
Abstract:
Keywords:hydrogenated amorphous silicon  pulse laser  crystallization  
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