基于LK8820测试机的芯片参数测试研究

作为LK8810S升级版本的LK8820测试机，硬件资源更加丰富，测试机函数进一步优化。分析了LK8820测试机的特点，并以CD4511芯片为例，通过CD4511测试电路设计和搭建、静态工作电流测试、输出高电平电压测试和输入高电平电流三种参数的测试，探究基于LK8820测试机的芯片参数测试的方法和过程。此种基于LK8820的数字芯片直流参数测试方案可操作性强，测试速度快，推动了OBE理念教学，提升了集成电路产业链效率。