基于LK8820测试机的芯片参数测试研究

作为LK8810S升级版本的LK8820测试机，硬件资源更加丰富，测试机函数进一步优化。分析了LK8820测试机的特点，并以CD4511芯片为例，通过CD4511测试电路设计和搭建、静态工作电流测试、输出高电平电压测试和输入高电平电流三种参数的测试，探究基于LK8820测试机的芯片参数测试的方法和过程。此种基于LK8820的数字芯片直流参数测试方案可操作性强，测试速度快，推动了OBE理念教学，提升了集成电路产业链效率。     

基于单片机的混合式太阳能跟踪控制器

针对光伏发电效率低、成本高的现状,分析光电转换效率低下的产生原因,研究了一种四点式双轴光电跟踪与数据库跟踪混合的太阳能跟踪控制器。本系统以单片机STC15F2K16S2为控制核心,设计了整套自动跟踪装置。确保正常太阳光下采用光电跟踪,光线弱时采用数据库跟踪模式,实现实时精确跟踪、数据库数据更新,并解决天气不利影响因素,大大提高了发电效率。本系统低成本、高精度、跟踪效果好、结构简单易操作,适用于各种光伏发电系统。     

数据采集系统中的数字滤波处理

在许多工业控制场合。对于单片机的抗干扰能力都有很高的要求。于是,对于抗干扰的设计也就成为单片机应用系统必不可少的一个重要环节。在单片机应用系统中的抗干扰分为两大类：一是硬件抗干扰;二是软件抗干扰。该文仅对数据采集系统中常用的数字滤波抗干扰处理方面的应用进行一些探讨。     

高速数电芯片参数测试方案优化研究

为了解决高速数电芯片测试速度慢、测试精度低的问题,提出一种利用LK88系列测试平台对集成电路高速数电芯片参数进行有效测试的方法.该测试方案通过对高速数电芯片SN74HC138的测试,可以实现快速筛出失效芯片、进行功能验证、对高速数电芯片的直流参数进行精准测试,最后通过上位机直观显示出来.测试过程易于操作、增强了可读性.与芯片Spec参数标准对比分析后可以得出测试精准性也有效提高.因为缩短了整体测试时长,并且精度提高,对于提升集成电路产业链经济效益方面具有积极影响.