| 高速数电芯片参数测试方案优化研究 |
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| 引用本文： | 余蓓敏.高速数电芯片参数测试方案优化研究[J].齐齐哈尔大学学报(自然科学版),2022,38(2):27-31. |
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| 作者姓名： | 余蓓敏 |
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| 作者单位： | 安徽电子信息职业技术学院 电子工程学院,安徽 蚌埠 233000 |
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| 摘 要： | 为了解决高速数电芯片测试速度慢、测试精度低的问题,提出一种利用LK88系列测试平台对集成电路高速数电芯片参数进行有效测试的方法.该测试方案通过对高速数电芯片SN74HC138的测试,可以实现快速筛出失效芯片、进行功能验证、对高速数电芯片的直流参数进行精准测试,最后通过上位机直观显示出来.测试过程易于操作、增强了可读性.与芯片Spec参数标准对比分析后可以得出测试精准性也有效提高.因为缩短了整体测试时长,并且精度提高,对于提升集成电路产业链经济效益方面具有积极影响.
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| 关 键 词： | 集成电路测试 高速数电芯片 参数测试 |
Research on parameter test scheme optimization of high speed digital and electrical chip |
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| YU Bei-min.Research on parameter test scheme optimization of high speed digital and electrical chip[J].Journal of Qiqihar University(Natural Science Edition),2022,38(2):27-31. |
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| Authors: | YU Bei-min |
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| Keywords: | |
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