| 标准加入双波长光度法同时测定化学镀层中的镍钴 |
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| 引用本文： | 葛圣松,邵谦,邱真真,宫振华.标准加入双波长光度法同时测定化学镀层中的镍钴[J].山东科技大学学报(自然科学版),2005,24(2):104-106. |
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| 作者姓名： | 葛圣松 邵谦 邱真真 宫振华 |
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| 作者单位： | 山东科技大学,化学与环境工程学院,山东,青岛,266510 |
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| 摘 要： | 研究了标准加入双波长光度法同时测定化学镀层中镍钴的试验条件，并对镍钴合成样和实际镀层样品进行了测定。在pH3．8的乙酸-乙酸钠缓冲溶液中，采用显色剂5-Br-PADAP测定镍钴的测定波长和参比波长分别为564nm和592nm，镍在两个波长下符合比耳定律的范围分别为0—50μg／25mL和0—40μg／25mL，钴为0—50μg／25mL。用该法对镍钴合成样和实际化学镀钴-镍-磷及镍-钴-磷合金镀层中镍、钴的同时测定，回收率在95％-105％之间，结果令人满意。
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| 关 键 词： | 标准加入双波长光度法 钴 镍 同时测定 |
| 文章编号： | 1672-3767(2005)02-0104-03 |
| 修稿时间： | 2005年1月18日 |
Simultaneous Determination of Nickel and Cobalt in Chemical Plating Layers by Standard Additions-dual Wavelength Spectrophotometry |
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| GE Sheng-song,SHAO Qian,QIU Zhen-zhen,GONG Zhen-hua.Simultaneous Determination of Nickel and Cobalt in Chemical Plating Layers by Standard Additions-dual Wavelength Spectrophotometry[J].Journal of Shandong Univ of Sci and Technol: Nat Sci,2005,24(2):104-106. |
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| Authors: | GE Sheng-song SHAO Qian QIU Zhen-zhen GONG Zhen-hua |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | standard additions-dual wavelength spectrophotometry cobalt nickel simultaneous determination |
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