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温度循环条件下电镀液配方对镀层Sn须生长的影响
引用本文:张金松,朱宇春,李娟娟,吴懿平.温度循环条件下电镀液配方对镀层Sn须生长的影响[J].华中科技大学学报(自然科学版),2008,36(3):24-27.
作者姓名:张金松  朱宇春  李娟娟  吴懿平
作者单位:1. 华中科技大学,材料成形与模具技术国家重点实验室,湖北,武汉,430074
2. 华中科技大学,材料成形与模具技术国家重点实验室,湖北,武汉,430074;武汉光电国家实验室,湖北,武汉,430074
摘    要:采用JEDEC标准、在温度循环条件下,研究了不同电镀液配方对纯Sn镀层Sn须生长的影响.当镀层致密度较低时,样品A表面出现大量的裂纹和凹陷,Sn须就生长在这些裂纹和凹陷附近,其生长密度极高且速率较快;当镀层致密度较高时,样品B表面裂纹和Sn须都很少,其生长速率也较慢.研究结果表明:电镀液配方主要通过镀层表面的致密度来影响Sn须的生长;致密度较高的镀层表面缺陷较少,能够抵抗和吸收较大的内部应力,从而降低局部区域的应力集中,减缓镀层表面裂纹的大量形成,进而抑制Sn须的生长.

关 键 词:纯Sn镀层  Sn须  致密度  温度循环实验
文章编号:1671-4512(2008)03-0024-04
修稿时间:2007年1月10日

Relations between the chemical composition of Sn finish and Sn whisker growth under temperature cycling
Zhang Jinsong,Zhu Yuchun,Li Juanjuan,Wu Yiping.Relations between the chemical composition of Sn finish and Sn whisker growth under temperature cycling[J].JOURNAL OF HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY.NATURE SCIENCE,2008,36(3):24-27.
Authors:Zhang Jinsong  Zhu Yuchun  Li Juanjuan  Wu Yiping
Abstract:
Keywords:
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