全文获取类型
收费全文 | 309篇 |
免费 | 4篇 |
国内免费 | 32篇 |
专业分类
丛书文集 | 25篇 |
教育与普及 | 20篇 |
理论与方法论 | 3篇 |
现状及发展 | 3篇 |
综合类 | 294篇 |
出版年
2024年 | 3篇 |
2023年 | 4篇 |
2022年 | 1篇 |
2020年 | 1篇 |
2019年 | 4篇 |
2018年 | 2篇 |
2017年 | 2篇 |
2016年 | 5篇 |
2015年 | 4篇 |
2014年 | 7篇 |
2013年 | 2篇 |
2012年 | 4篇 |
2011年 | 11篇 |
2010年 | 10篇 |
2009年 | 9篇 |
2008年 | 7篇 |
2007年 | 14篇 |
2006年 | 7篇 |
2005年 | 9篇 |
2004年 | 10篇 |
2003年 | 18篇 |
2002年 | 7篇 |
2001年 | 23篇 |
2000年 | 17篇 |
1999年 | 6篇 |
1998年 | 18篇 |
1997年 | 19篇 |
1996年 | 16篇 |
1995年 | 21篇 |
1994年 | 16篇 |
1993年 | 18篇 |
1992年 | 10篇 |
1991年 | 12篇 |
1990年 | 13篇 |
1989年 | 8篇 |
1988年 | 3篇 |
1987年 | 2篇 |
1986年 | 2篇 |
排序方式: 共有345条查询结果,搜索用时 249 毫秒
1.
本首次用图论方法探讨了硅烷、锗烷和锡烷的沸点与其分子结构之间的关系,提出一结构基础明确的、普遍适用于硅烷、锗烷和锡烷的定量关系。计算结果表明,沸点预测值都接近实验值。应用本定量关系,不仅能够预测硅烷、锗烷和锡烷的沸点,而且有助于揭示物质结构性能关系之间的奥秘。 相似文献
2.
研究了MnBiAlGe合金薄膜的磁光特性,并着重探讨Ge在合金薄膜中组分变化对磁光特性的影响,得出了当Ge为0.3时,其克尔角可达1.75°,是很有希望的新型磁光材料. 相似文献
3.
采用分光光度法对海参中的总锗量进行了测定 ,分析结果表明 :海参中总锗含量为 14.16~ 15 .18μg·g-1.回收率为 88.1%~ 94.8% . 相似文献
4.
我们在硅锗合金衬底上采用氧化等制膜方式生成零维和三维的纳米结构样品,用高精度椭偏仪(HPE)、卢瑟福背散射谱仪(RBS)和高分辨率扫描透射电子显微镜(HR-STEM)测量样品的纳米结构,并采用美国威思康新州立大学开发的Rump模拟软件对卢瑟福背散射谱(RBS)中的CHANNEL谱和RANDOM谱分别进行精细结构模拟,计算且测量出纳米氧化层与锗的纳米薄膜结构分布,并且反馈控制加工过程,优化硅锗半导体材料纳米结构样品的加工条件.我们在硅锗合金的氧化层表面中首次发现纳米锗量子点和量子层结构,我们首次提出的生成硅锗纳米结构的优化加工条件的氧化时间和氧化温度的匹配公式和理论模型与实验结果拟合得很好. 相似文献
5.
合成了3A金属取代的钨错杂多化合物:α-GeW9M3(M=A1,Ga,In)。通过元素分析、红外、紫外、183WNMR以及热分析手段进行了表征。测定了电导率。结果表明:所合成的杂多化合物热稳定范围宽,不易失水,将是一类新型固体电解质。 相似文献
6.
用量子化学从头计算(HF)和密度泛函理论(DFT)对1,3-磷锗丙二烯及其相关分子进行了研究.在6-311 G(d,p)和6-311 G(3df,2p)基组水平优化上计算了各标题物的平衡几何构型.结果表明:1,3-磷锗丙二烯及1,2,3-磷硅锗丙二烯为弯曲几何构型,负离子也为弯曲几何构型.另外,在B3LYP/6-311 G(d,p)水平上计算了各标题物的旋转势垒,定性估算了各标题物分子中Ge=C、Ge=Si、C=P、Si=P和Ge=P等双键的相对强度. 相似文献
7.
本文描述了应用于SiGe外延的分子束外延(MBE)、超高真空化学气相沉积(UHV/CVD)、常压化学气相沉积(APCVD)、快速热化学气相沉积(RTCVD)等几种工艺及这几种工艺中的常见问题,并介绍了近来这些SiGe外延技术的改进,最后从器件角度对以上几种工艺特性进行了比较。 相似文献
8.
高纯锗探测器(HPGe)对于低本底稀有事例探测的发展具有重要的意义.本文介绍了HPGe的工作原理及其制备工艺,分析了对探测器起关键作用的钝化层和死层部分,并讨论了降低本底的关键技术.对于HPGe应用于包括暗物质探测和无中微子双贝塔衰变的稀有事例探测实验的进展,重点介绍了应用HPGe的CDEX、SuperCDMS、GERDA、MAJORANA等国际领先的稀有事例探测合作组相关实验技术和物理进展,进一步分析了HPGe用于下阶段国际稀有事例探测的发展方向. 相似文献
9.
10.
本文提出了一种运用三点法来求取单晶实际切割晶面相对于理想切割晶面方位角度的一种定向简便计算方法。单晶光学晶体晶面由于生长和切割误差等原因,往往造成实际切割晶面与理想切割晶面有偏角。为了获得这种偏角关系进行晶体的准确定向、切割加工,采用YX-2型X射线晶体定向仪与传统的数学计算方法相结合,运用三点法即可准确计算出实际切割晶面任意方位与理想切割晶面之间的偏角大小及具体偏向。晶体定向准确度高,操作方便,快速简捷,费用便宜,可准确地确定晶体的切割方向。 相似文献