MUX中的信号串扰分析及其分组分层设计

多路模拟开关（MUX）广泛应用在各种智能仪器之中,MUX的特征对智能仪器的性能有很大影响,本文对MUX中所存在的固有的信号串扰缺陷进行了比较详尽的理论分析,并且针对这种缺陷提出了MUX分组分层,信号错位的设计方案,从而基本消除了在MUX中各通道之间存在的信号串扰现象,大大提高了前置通道的稳定性及测量的精度。