首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   18篇
  免费   0篇
综合类   18篇
  2005年   2篇
  2001年   1篇
  2000年   6篇
  1997年   2篇
  1995年   1篇
  1994年   1篇
  1991年   1篇
  1990年   1篇
  1988年   1篇
  1986年   1篇
  1985年   1篇
排序方式: 共有18条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
球形Ni(OH)2粒径分布对电化学活性的影响   总被引:5,自引:0,他引:5  
以不同粒径球形Ni(OH)2为活性材料,以泡沫镍为导电基体制备氢氧化镍 电极,进行活性检测,结果表明,以按一定粒径比例混合的Ni(OH)2为活性物质所制备的电极,其电化学活性最高。  相似文献   
2.
镀液流速对复合电沉积的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
通过对Ag-MoS_2复合镀层在氰化物镀液中电沉积的研究,定量测定了镀液流速、微粒在镀液巾的悬浮量以及阴极电流密度对MoS_2微粒与Ag共沉积的影响。发现复合镀层中MoS_2含量是镀液流速、微粒悬浮量及电流密度的函数,并由此提出了能比较满意地反映在该复合共沉积体系中微粒共沉积量与镀液流速、微粒悬浮量和电流密度间关系的数学模型。  相似文献   
3.
以不同粒径球形Ni(OH)2为活性材料,以泡沫镍为导电基体,制备氢氧化镍电极,进行活性检测.结果表明,以按一定粒径比例混合的Ni(OH)2为活性物质所制备的电极,其电化学活性最高.  相似文献   
4.
交、直流铝阳极氧化多孔膜的组成及结构比较   总被引:1,自引:0,他引:1  
对硫酸溶液中交、直流氧化铝多孔膜的组成及结构进行了研究.交、直流氧化铝多孔膜均由(Al2O3)2·H2O、Al(OH3)和Al2(SO4)3组成,此外,交流氧化膜形成过程交流负半周的存在,使得其成分中还含有一定量的S单质和硫化物.直流氧化膜的孔形较交流氧化膜更规则.交流氧化膜的表面被显著粗化.  相似文献   
5.
磷酸溶液中铝恒压阳极氧化的研究   总被引:1,自引:0,他引:1  
对铝在磷酸溶液中的恒压阳极氧化过程进行了研究,结果表明随着电解电压的升高,形成了氧化铝多孔膜的阻挡层增厚,多孔层的孔径和胞径均增加,其原因与离子迁移等密切相关。  相似文献   
6.
为了确定电解电压与氧化铝薄膜纳米孔孔径之间的内在关系,以2%的磷酸为电解液,在40~150V的电解电压范围内,对铝基材实施阳极氧化制备了具有纳米孔结构氧化铝薄膜.用环境扫描电镜(ESEM)观察结果表明,阻挡层中微裂纹的产生是形成纳米孔的先决条件,微裂纹的长度决定了孔径的大小.微裂纹的长度由阻挡层中的内应力决定,内应力由γ-Al2O3,与金属铝基体的匹配度决定,匹配度由γ-Al2O3的晶粒尺寸决定.X射线衍射(xRD)的分析结果表明,电解电压决定了氧化铝薄膜中γ-Al2O3晶粒尺寸的大小.因此,电解电压决定了氧化铝薄膜纳米孔的孔径.  相似文献   
7.
采用X射线光电子谱对Ag-La_2O_3复合镀层进行了分析。结果表明,微粒在镀层中不是简单的机械夹杂,而是在接触界面处与周围的Ag原子发生化学作用,形成Ag、La、O非计量界面扩散反应层。文中讨论了荷负电徽粒的复合电沉积机理,以“微粒效应”和“电蚀中心”的观点解释Ag-La_2O_3复合镀电触点耐电蚀现象。  相似文献   
8.
用MnO4-/MnO412-间接电氧化体系对黄县油页岩的氧化条件及产物进行了研究。实验结果表明此过程可在室温下进行,并大大节省了KMnO4的消耗。氧化产物中的水溶酸主要由C6~C28的饱和脂肪族二元酸和C8~C31的饱和脂肪族一元酸组成。氧化过程中固体燃料残渣的FT-IR分析表明,油页岩有机质的脂肪族结构优先被氧化。  相似文献   
9.
Ni—ZrO2复合镀层中微粒与基质金属间的相互作用(Ⅰ)   总被引:3,自引:0,他引:3  
利用SEM、TEM、XRD等测试手段,对Ni-ZrO2复合镀层的组织结构进行了研究,实验表明,复合镀层中ZrO2微粒的存在,改变了基质金属Ni的晶体择优取向和点阵常数,从而证明了复合镀层中基质金属Ni与ZrO2微粒之间并不是简单的机械混合,其间存在相互证明。  相似文献   
10.
采用交、直流阳极氧化的方法,研究了硫酸溶液中形成氧化铝多孔膜的红外特性,结果表明,交、直流氧化膜中存在的A1O←→H键,S←→O键,Al←→OH键,Al←→OAl键以及交流氧化膜特有的S←→H键和S←→S键对红外光的吸收是其具有极低红外反射率的主要原因。交流氧化膜基体铝的粗化也使其红外反射率进一步降低,交、直流氧化膜的红外反射率均随膜厚的增加而降低。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号