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C 扫描是超声波成像检测技术中一种十分有效的手段,其测试结果直接给出缺陷的轮廓及在平面内的位置,非常直观,近年来倍受青睐.国外在这一领域发展得十分迅速,特别是对于已获得的超声波信号在存储、分析以及利用高分辨伪彩方式显示方面,有了很大的进展,已经形成了商品化的检测仪器系统.目前,国内多采用 SM-1型通用 C 扫描仪,该机定型后其扫描控制部分虽然做过一些改进,但是,其探测及显示部分仍使用普通探伤仪对回波数据进行模拟处理并沿用 SM-1型 相似文献
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