基板直流偏压对高频溅射Co-Cr膜的影响

本文在国产高频溅射仪上研究了基板直流偏压对Co-Cr溅射膜性能的影响。实验研究表明,溅射膜的M,不仅随Cr含量增加而减小,而且随负偏压的绝对值的增加而减小,在适当的负偏压下,可以得到C轴取向度△θ_(50)和磁性参数的某种最佳值。本文研究了得到这种最佳值的条件,找到了降低饱和磁化强度和改善薄膜性能的新途径。     

二重配合的抽样检查与统计推断

文献[1]研究和讨论了二重配合的概率设计问题。本文讨论大批量生产中二重配合件的抽样检查与统计推断问题:提出质量检验标准值的确定方法,讨论装配后内配合量的均值、方差及过盈概率等质量指标的抽样检查和统计推断步骤与方法,给出在计算机上进行这种模拟检验的例子。     

任意波形合成系统硬件设计

提出并分析了任意波形合成系统（ＡＷＳ）──一种高度智能化的计算机仪器的几种典型结构及其特点，着重讨论了ＰＣ总线式任意波形合成系统的系统组成及各部分硬件电路设计的关键技术     

磁头定位系统温度特性的仿真研究

用计算机仿真研究磁头定位系统的性能随温度变化的特性，与测试分析相结合，得出了有关宽温带高精度磁头定位系统设计的一些有意义的结论．     

一种N/(N+1)型高码率游长受限码编码方法

基于数据分块的分布特性,提出了一种可用于磁存储或光存储读写通道中的高码率游长受限码的编码方法,包括对数据进行子块分割和检测、建立标志子块队列,按照排队规则和无冲突子块的映射策略进行码字映射等.该方法能在给定的(d,k)受限条件下接近编码容量,并具有递推设计更高码率编码的扩展性能.利用该方法设计了码率为32/33(d=0,k=6)的游长受限码,并给出了结合子块交叉插入技巧设计64/65(0,10)游长受限码的方法,还对受限参数与码率和编码容量的关系进行了探讨.     

廉价冗余磁盘阵列（RAID）可靠性研究

在目前ＲＡＩＤ的可靠性研究中，几乎没有考虑磁盘硬错对ＲＡＩＤ可靠性的影响。本文从单盘数据可靠性的分析入手，提出了磁盘数据可靠性的几个新概念。然后，研究了磁盘硬错对磁盘阵列可靠性的影响，从而提出了新的磁盘阵列可靠性的模型。典型的数字结果表明在磁盘阵列的可靠性研究中必须考虑磁盘硬错的影响。     

Analog Module Placement Design Using Genetic Algorithm

This paper presents a novel genetic algorithm for analog module placement based on a generalization of the two-dimensional bin packing problem. The genetic encoding and operators assure that all problem constraints are always satisfied. Thus the potential problems of adding penalty terms to the cost function are eliminated so that the search configuration space is drastically decreased. The dedicated cost function is based on the special requirements of analog integrated circuits. A fractional factorial experiment was conducted using an orthogonal array to study the algorithm parameters. A meta-GA was applied to determine the optimal parameter values. The algorithm was tested with several local benchmark circuits. The experimental results show that the algorithm has better performance than the simulated annealing approach with satisfactory results comparable to manual placement. This study demonstrates the effectiveness of the genetic algorithm in the analog module placement problem. The algorithm has b