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采用溶胶-凝胶工艺制备出平均尺寸为0.109μm的SiO2-P2O5-TiO2细小均匀的粉体。通过XRD、SEM、热重分析发现,粉体中存在着包裹在颗粒周围的无定形二氧化硅膜,能有效的抑制水解时磷和钛的副反应发生,改善了粉体的化学稳定性,并且该粉体具有良好的吸湿性,适合于制备电解质薄膜。 相似文献
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Ga-Sb熔体的密度-温度特性 总被引：1，自引：0，他引：1
采用改进的阿基米德法对Ga-Sb熔体的密度值进行升温和降温过程测定分析.试验结果表明,升降温时Ga-Sb熔体的密度值在熔点附近都有异常变化,出现了热缩冷胀的现象,其变化的原因是升温的过程中配位数的增加占主导地位. 相似文献
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为分析Ga36.5Sb63.5熔体电阻率的变化规律与液态结构变化的相关性,采用电阻率测试仪(RM)、X射线衍射仪(XRD)测量其电阻率及合金熔体的凝固组织。结果表明,Ga36.5Sb63.5熔体的电阻率-温度曲线在(716~730)℃温度之间出现突变,在突变区域前后温度下所得到的快速凝固组织中均含有GaSb二元相。 相似文献
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