基于栅极信号的功率器件老化特征分析

本文研究栅极动态信号在功率器件故障预测上的应用.首先介绍了功率器件栅极动态信号反映的相关失效机制,并分析了栅极动态信号的老化特征及影响因素.提出了老化特征提取方法,选定动态过程时间,动态过程面积比率作为老化特征.使用降频错位采样的方法还原高频采样下计算的老化特征,降低利用动态信号进行故障预测的采样频率,以提高方法可行性.通过NASA公布的数据集进行实验验证,提取的老化特征明显,降频采样达到了预期效果.     

一类3-连通图上的最优容错路由选择的构成

一类３－连通图上的最优容错路由选择的构成郑晓罗予频杨士元（南京广播电视大学，南京２１００２９）（清华大学自动化系，北京１０００８４）在描述某网络的图中，给各有序的两点定义一条称之为路由（ｒｏｕｔｅ）的通信路径，这就构成了ｒｏｕｔｉｎｇ。当故障发生时...     

CMOS VLSI电路无时延平均功耗和有时延平均

从理论上阐述了无时延平均功耗和有时延平均功耗之间的单调递增关系, 用计算速度快的无时延理想电路功耗作为计算速度慢的有时延实际电路功耗的评估标准, 并给出了它在电路平均功耗快速估计、最大功耗快速估计和电路测试功耗快速优化三个领域中的应用. 提出了一种先用无时延功耗对较长的输入向量对序列进行快速压缩、再用压缩序列快速模拟出平均功耗(或最大功耗)的新方法. 与直接用未压缩序列进行模拟的传统方法相比, 实验结果表明: 对于平均功耗快速估计, 在保证估计精度(误差小于3.5%)的前提下, 将模拟速度提高了6~10倍; 对于最大功耗快速估计, 在保证估计精度(误差小于5%)的前提下, 将模拟速度提高了6~8倍. 在测试功耗快速优化领域, 与测试功耗直接优化法和现有的Hamming距离优化法相比, 无时延功耗优化法的优化效率最高, 它可以用较少的时间(缩短为 16.84%), 取得较好的优化效果(测试功耗降低35.11%).     

模拟电路软故障诊断测试节点优选的仿真研究

基于斜率故障模型和线性相关系数故障模型,提出了一种模拟电路软故障诊断字典法中的测试节点优选算法.针对模拟电路中的单故障和双故障,分别利用节点电压增量计算出的斜率和线性相关系数作为统一故障特征,建立故障字典;给出了在字典建立过程中,利用PSPICE仿真工具对电路进行故障仿真,采用特征函数描述故障统一特征的差别,根据故障隔离度优选测试节点的算法和步骤;并用仿真实例验证了该测试节点优选方法的有效性.     

混合型BTT/STT大攻角导弹自动驾驶仪设计

为了尽可能提高导弹机动能力,提出了"大过载采用BTT(bank-to-turn)控制,小过载采用STT(skid-to-turn)控制"的设计原则,由BTT/STT决策模块和双回路控制器组成混合型BTT/STT大攻角导弹自动驾驶仪。采用攻角控制替代了传统的过载控制,推导出将过载指令转换为对应STT(或BTT)控制方法的攻角、侧滑角和滚转角指令的BTT/STT决策算法,由角度变化的长周期运动和转动角速度变化的短周期运动组成一个双回路控制器。针对Backstepping设计方法适合于级联系统稳定控制的特点,采用直接构造Backstepping法来设计双回路控制器。仿真结果表明:该大攻角自动驾驶仪能够满足近距格斗导弹的技术要求。     

混合信号SoC联合测试方案

混合信号片上系统(SoC)模拟核的测试是SoC测试的难点之一,常用片上数模转换器(DAC)、模数转换器(ADC)配合模拟核进行测试。本文对于片上DAC、模拟核、ADC同时待测的情况,基于模拟核的振荡测试、ADC柱状图测试和DAC脉宽测试等方法,提出联合测试方案。将重构模拟核产生的三角波振荡信号,分别作为ADC柱状图测试和DAC脉宽测试的激励,并引入ADC和DAC的直连测试作为补充,构建三者两两之间的联合测试。该方案在对电路进行少量重构的条件下,自生成并复用测试激励,可实现对单故障的定位并解决双故障掩盖问题。     

自保持接口在模拟芯核虚数字化测试中的优化

数模混合片上系统(SoC)正逐步成为片上系统的主导,而其中模拟芯核的测试问题是研究的难点之一。利用自保持模拟测试接口(SHATI)可以实现模拟芯核对外接口虚数字化,对其进行并行测试。该文对自保持模拟测试接口进行了面积优化,以减少片上DFT(design for test)面积开销,并利用Hspice仿真实验验证了面积改进的可行性。同时,针对并行测试的测试激励调度问题,该文给出了测试时序设计的优化算法,并通过实际示例验证了算法的可行性。     

CMOS VLSI电路无时延平均功耗和有时延平均功耗之间的单调递增关系及其应用

从理论上阐述了无时延平均功耗和有时延平均功耗之间的单调递增关系,用计算速度快的无时延理想电路功耗作为计算速度慢的有时延实际电路功耗的评估标准,并给出了它在电路平均功耗快速估计、最大功耗快速估计和电路测试功耗快速优化三个领域中的应用.提出了一种先用无时延功耗对较长的输入向量对序列进行快速压缩、再用压缩序列快速模拟出平均功耗(或最大功耗)的新方法.与直接用未压缩序列进行模拟的传统方法相比,实验结果表明:对于平均功耗快速估计,在保证估计精度(误差小于3.5%)的前提下,将模拟速度提高了6～10倍;对于最大功耗快速估计,在保证估计精度(误差小于5%)的前提下,将模拟速度提高了6～8倍.在测试功耗快速优化领域,与测试功耗直接优化法和现有的Hamming距离优化法相比,无时延功耗优化法的优化效率最高,它可以用较少的时间(缩短为16.84%),取得较好的优化效果(测试功耗降低35.11%).     

大视角下非平面场景的图像特征匹配

为了改进了大视角下非平面场景的图像匹配质量,提出了一种特征匹配传播算法。传统算法的隐含假设是图像中以任意一点为中心的区域均满足局部共面性条件,该算法突破了这一假设条件的限制。通过对图像局部区域共面性条件的判断,在给定匹配点周围利用局部仿射变换和全局极线几何约束对匹配点进行扩充,在两幅图像的共同可见区域内产生准稠密的匹配点对。匹配可以自动传播到局部变换模型与初始变换不同的区域。通过在真实图像上的验证表明,该算法有效提高了在大视角间隔和透视情况下的图像匹配质量,增加了匹配数目。     

构造SoC级透明路径的0-1规划方法

为解决如何以低面积开销为系统芯片(SoC)构建透明路径测试访问机制从而有效进行测试复用的问题,提出了SoC级透明路径构建方法,将透明路径构建问题转化为0-1规划问题,同时考虑测试调度,以缩短测试加载时间和减小面积开销为优化目标,利用IP模块内部的透明路径和模块间互连关系为每个待测模块构建测试访问通路。实验结果表明:该透明路径构建方法的面积开销比Ghosh方法降低50%,测试加载时间比Yoneda方法大大缩短,验证了该方法的有效性。